X射线能量色散谱仪简介.pptVIP

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X射线能量色散谱仪简介

* * EDS可与EPMA、TEM、SEM等组合,其中SEM-EDS组合是 应用最广的显微分析仪器。 特征X射线的产生 内壳层电子被轰击后跳到比费米能高的能级上,电子轨道 内出现的空位被外壳层轨道的电子填入时,多余的能量以特定波长的X射线光量子的形式放出就是特征X 射线。 Si(Li)探测器 N=E/3.8 计数率 每秒钟接收到的X射线光子数。这里的接受指的是已转换成电脉冲并被 仪器处理的信号。 死时间 能谱仪进行信号处理的时间,或者说拒绝接收输入计数的时间,占全部时间的百分比。 或用数学表达式 死时间%=(输入计数率-采集计数率)/ 输入计数率 *100% 试样中元素特征X射线的强度IA与试样中元素的含量成比例, 所以只要在相同条件下,测出试样中A元素的X射线强度IA与 标样中A元素的X射线强度I(A)比,近似等于浓度比: KA=IA/I(A) ~CA/C(A) KA=CA/C(A)×(ZAF)A/(ZAF)(A) ZAF为修正系数: Z:原子序数修正因子。(与电子束散射有关) A:吸收修正因子。(试样对X射线的吸收) F:荧光修正因子。(特征X射线产生) 强度比:K=IS/Istd Istd是标样强度,它由纯物理计算,或用标样数据库给定的, 适应于不同的实验条件。其计算精度不如有标样定量分析。 通俗讲,能谱的能量分辨率是指Mn Ka(5.89KeV)的半高宽.能量分辨率一般标准为130eV。 能谱制造商用Fe 55放射源来测试,Fe 55能够提供2500cps左右的计数,特 征能量为5.9Kev. 但是工程师不可能携带放射源到客户现场来测试能谱分辨率,因此用特征能量和Fe 55非常接近的Mn标样来替代Fe 55测试能谱分辨率。 定义:特定分析条件下,检测到元素或化合物的最小量值, 即某种元素能够检测到的最低含量。一般认为,材料中某元 素的X射线强度N等于本底标准偏差的3倍时,(即N=3)该元 素肯定存在,其置信度为99.7%。 通常EDS检测限为0.1%-0.5% 定量结果及允许误差 对定量结果必须正确选取有效位数。EDS定量分析结果,小数点后保留一位,原始数据可以多保留一位。 EDS的相对误差 “电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析通则”国家标准 元素含量范围 允许的相对误差 含量>20%wt 5% 3 %wt含量20%wt 10% 1 %wt含量3%wt 30% 0.5%wt含量1%wt 50% *

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