翻译2016-Detection of a poorly resolved airplane using SWIR polarization imaging.docxVIP

检测使用不良解决的飞机SWIR偏振成像Laura M. Dahl，1 Joseph A.Shaw，1和David B. Chenault21蒙大拿州立大学电气与计算机工程系，Bozeman，MT 597152 Polaris Sensor Technologies，Huntsville，AL 35801摘要偏振可用于检测地面和空气中的人造物体，因为它提供超过强度和颜色的附加信息。天窗可以是强极化的，因此飞行中飞机的检测需要仔细考虑天窗度和极化角（DoLP，AoP）。在这项研究中，我们检测飞行中白天部分多云和蒙上阴影的Bozeman的烟雾状况不佳的飞机（目标上4个像素）。我们使用Polaris传感器技术SWIR-MWIR旋转成像旋光仪在短波红外（SWIR）中测量飞机和周围天窗的极化特征，从1.5到1.8μm。在部分多云的天空的清晰区域中飞行的飞机在相对于地平线的仰角为13°处被发现是69％的极化，并且周围的天窗是4-8％极化的（最大天窗DoLP被发现是7-在仰角为50°时为14％）。随着飞机高度增加，飞机和周围天空像素的DoLP随着飞机接近最大天线极化带而增加。我们还观察到，当存在严重的烟雾时，飞机可以比其周围的天窗具有更少的极化。在这种情况下，飞机在17°的仰角处偏振30-38％，而周围的天窗大约40％偏振（在34°仰角的最大天窗DoLP为40-55％）。在这两种情况下，在DoLP图像中最常见地观察到飞机，而不是S0或AoP图像。在本文中，我们详细描述结果，并讨论这种现象学如何检测勉强解决的飞机。关键词：天窗飞机;短波红外;检测引言光学偏振越来越多地用于增强人造物体的检测，因为它增加了超出基本图像强度和颜色的额外维度[1]。这需要仔细考虑自然环境的极化状态。在可见光和短波红外波长下，自然界中的偏振主要来自日光的散射和来自平滑表面的反射[2]，而在更长的热红外波长下，偏振直接通过发射和来自平滑表面的发射辐射的反射而产生[ 3-5]。在本文中，我们限制我们的注意力短波红外光谱。当太阳光被尺寸远小于光学波长的气体分子散射时，透明气氛中的短波长天窗变为部分偏振，并且该偏振取决于源，目标和传感器几何形状。瑞利散射理论[6,7]预测散射强度与波长的四次方成反比，并且散射辐射在从太阳以90°角度延伸穿过天空的弧中是100％线性偏振，矢量取向正交于散射平面（由入射和散射射线定义）。然而，在现实中，大气分子，气溶胶，云和底层地表的多重散射使最大偏振度远低于100％[2,8,9]。由于太阳似乎穿过天空，最大极化带也改变天空中的位置，总是保持与太阳的位置成90°[10]。在具有主导瑞利散射的晴空中的其它角度，偏振度（DoP）根据不同而变化Polarization：Measurement，Analysis，and Remote Sensing XII，edited by David B.Chenault，Dennis H.Goldstein。Proc。的SPIE卷。 9853，98530P??2016 SPIE?CCC代码：0277-786X / 16 / $ 18?doi：10.1117 / 12.2228273其中θ是由入射光和聚光光线限定的散射角，并且是最大偏振度（对于理论瑞利分析情况，其为1）。天窗也可以变得极端偏振或可以改变其极化状态，从平滑的冲浪表面反射。对于诸如玻璃和平板的介质介质，菲涅尔反射等式（2和3）描述了在平行于（方程2）和垂直方向（方程3）的平面中的偏振分量的分数反射强度（包含表面和入射和反射光线的入射）其中ni和nt分别是入射和透射介质的折射率，θi是材料上的入射角，θt是透射到材料中的角度[11]。我们的小组使用散射码的成功命令[12]，用全天空偏振仪验证[13]，显示出晴空极化对大气气溶胶的强烈依赖性，如下层可见光到短波红外的地表反射率[9,14]。我们的进一步研究发现，粒子尺寸d分布是决定短波红外线区域中天窗极化率的主要因素[15]。当气溶胶光学深度大于Rayleigh光学深度时，预测的偏振显着偏离Rayleig h散射图。随着侵蚀性光学深度增加，线性偏振光谱的程度以取决于气溶胶尺寸分布的速率随第一波长而降低。在地下表面反射率的增加导致在线性极化率曲线的类似的突然减少。越来越高的检测器像素密度和改进的线性偏振的噪声等价变化的趋势[16]正在增加对短波红外（SWI R）偏振感测的兴趣。在本文中，我们描述了使用SWIR偏振成像来检测在天空中不良分辨的飞机波束聚集特征，以进一步开发我们在短波红外光中的天窗偏振的知识，并且观察物体极化特征如何变化关于不同的环境条件和地面照明。2. SWIR-MWIR旋转同轴电缆2.1 SWIR-M WIR旋转成像旋光仪图1所示的Polaris传感器技术SWIR-MWIR旋转成像偏振仪是用于测量