场发射扫描电子显微镜SEM送样须知.docVIP

（一）场发射扫描电子显微镜（SEM）送样须知 应用范围： 固体样品的微观形貌、结构，样品的微区元素成份及线分布、面分布，广泛应用于纳米技术、材料、物理、生物、化学、热能、地球科学、环境、光电子等领域。 ? ☆ 粉末、微粒样品形态的测定； ? ☆ 金属、陶瓷、矿物、水泥、半导体、纸张、塑料、食品、农作物、细胞等材料的显微形貌分析； ☆ 复合材料界面特性的研究； ? ☆ 材料中元素定性分析、定量分析、线分析、面分析； ? ☆ 材料及电子器件失效分析。 来样须知： ? ☆ 样品中不得含有铁（Fe）、钴(Co)、镍(Ni)； ? ☆ 样品不得具有磁性，并且不易被磁化； ? ☆ 样品中不得含有水分； ? ☆ 样品粉末状为宜，形状不规则样品需加工表面整洁，厚度小于0.5cm； ? ☆ 多孔类或易潮解的样品，请提前真空干燥处理； ? ☆ 样品应具有导电性，若样品不导电，需要进行镀金导电膜的处理。 检测项目： ☆ 表面形貌观察； ☆ 微区元素分析； 可以检测的元素范围B5～U92。 可以检测微区元素的线分布、面分布。 提供EDS数据分析处理。 （二）激光粒度分析仪（PCS）送样须知 应用范围： ? ☆ 测量纳米颗粒的粒径，同时给出粒径的分布； ? ☆ 应用于纳米材料、生物分子（如蛋白质、脂质体）、化工产品、食品、农业化学品、日用化学品、制药等领域。 来样须知： ? ☆ 样品应该为澄清溶液，溶液中无肉眼可见的絮状物或漂浮物； ? ☆ 样品浓度不低于0.1mg/ml，不高于40%固含量； ? ☆ 样品量大于5mL； ? ☆ 被测颗粒形状应尽可能接近球形，且尽可能是单分散样品（即样品中的颗粒尺寸单一）。 ? ☆ 请提供被测颗粒的折射率，分散介质的折射率和粘度数据。 检测项目： ? ☆ 纳米颗粒粒径。 （三）X射线荧光光谱仪（XRF）送样须知 应用范围： 样品可以是固体、粉末、熔融片，液体适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。广泛应用于冶金石油化工航空航天材料生产等领域样品的物相分析（定性分析）粉末样品物相分析? ☆ 玩具中药材样品中有毒有害重金属元素As、Pb、Hg、Cd等的检测； ☆ 土壤、植物叶子样品中营养元素K、Ca、Na、Mg等的检测； ? ☆ 不锈钢产品中Cr、Ni、Mo等元素的检测； ? ☆ 贵金属金银钯样品及紫铜、锗样品中杂质元素的分析。 来样须知： ? ☆ 客户需提供足量、完整、均匀的样品供检测，元素含量在mg/kg级的需 1g以上样品。 ? ☆ 金属样品需提供粉末状或者碎屑状样品。 检测项目： ☆ 定性分析： 对未知样品进行全谱扫描，给出样品中无机元素（包括非金属磷和硫元素）的种类及元素含量的范围。 ☆ 定量分析 对样品中元素含量进行准确定量分析，检测元素下限为0.1mg/kg，上限为20%。超出范围的元素需结合其他分析手段共同分析。 (六)红外显微光谱仪（FTIR-660+610）送样须知 应用范围： ? ☆ 可用于样品的无损检测； ☆ 污染物、异物、微区红外分析； ? ☆ 失效分析、故障分析； ? ☆ 电子材料； ? ☆ 文物保护领域； ? ☆ 涂层、包装和层压材料； ? ☆ 有机样品、无机样品和高分子材料等的鉴定以及混合物分布图； ? ☆ 公安法院物证鉴定、环境检测、商检等领域； ? ☆ 应用于医药、农药、精细化工、环境、纺织、检测、矿物、等各领域。 来样须知： ? ☆ 样品尽量干燥，固体或冻干粉样品，避免水的羟基峰对其他官能团红外峰的影响； ? ☆ 来样请注明样品保存条件（干燥、冷冻、冷藏、避光或其他）贵重样品、强酸、强碱、有毒、放射性样品、容易变质、损坏样品请事先说明，必要时注明保存条件； ? ☆ 与溴化钾研磨反应样品要事先告知； ? ☆ 研磨或者接触空气变质样品要事先告知； ? ☆ 特殊要求请在样品登记上注明，否则按正常测试处理；由于样品处理不当（残存溶剂、杂质较多、混合成分）等，造成谱图质量不高，若重新测试该样品时，则按新的样品受理； ? ☆ 送检样品应该满足分析测试要求，需要制样的，根据制样的难易程度，酌情收取样品处理费。 检测项目： ☆ DTGS室温检测器、液氮冷却MCT检测器的透射谱及反射谱。 （七）差热分析仪（DSC）送样须知 应用范围： ☆ 广泛应用于塑料、橡胶、涂料、胶粘剂、医药、石油化工等领域； ☆ 无机材料的相转变、高分子材料的熔融与结晶、玻璃化转变、比热、氧化稳定性、药物的多晶型现象、油脂等食品的固/液相比例、金属及合金熔点等。 来样须知： ? ☆ 请根据自己样品的性质及测试需求，自行查阅相关资料后，提供详细的测试条件（温度范围、升温速率等）； ? ☆ 样品量不少于50 mg； ☆