双边加压下GIS局部放电的测量研究.pdfVIP

双边加压下GIS局部放电的测量 西安离压电器研究所(71007乃 张小勇 妈建召 李政 孙晓滨 李岩 王的 摘拼 采用IEC517中规定的双边加压方式成功地对GIs进行了局部欣电洲ti. 关健词:GIs局部放电 1 引言 众所周知，电力系统中的很多事故的发生都是因为电力设备的绝缘损坏而造成的。而 对于超高压电网，电力设备一旦损坏，带来的危害更为严重。GIS因其诸多的优点，如占地 面积小，运行可靠等，在超高压电力系统中得到了大范围的使用。这就使得对其进行的绝缘 检测显得尤为重要，而在各种考核绝缘的方法中，局部放电测量是一种能及早发现设备绝缘 缺陷的有效方法，对常规的绝缘试验是有益的补充。对高压设备进行局放测量并不是非常容 易，因为它对于整个测量系统及外部环境有很高的要求。如试区的屏蔽是否良好.高压电源 本体的局放如何等。而在双边加压方式下侧量局部放电难度更大，在我国能进行这种试验的 高压试验室并不多。 本文将以某台GIS在西安高压电器研究所高压试验室进行试验的情况，阐述如何进行 双边加压下的局部放电测量。 2局部放电的理论分析 2.1产生原因 高电压设备绝缘内部不可避免地存在着缺陷和电场分布的不均匀性，如固体绝缘中的空 隙，液体绝缘中的气泡等。这些空隙及气泡中或局部固体绝缘沿面上的场强达到一定值时， 就会发生局部放电。这种放电并不会立即形成贯穿性通道。但长期频繁的放电，必然会使绝 缘的老化逐步加剧，进一步导致整个绝缘的击穿。 2.2作用机理 局部放电造成绝缘损伤的机理是多方面的，如:(1)带电粒子对介质表面的撞击，切断 分子构造;(2)由于带电粒子撞击介质，引起介质局部的温度上升，使介质加速氧化，由于 氧化等而引起裂解以致平均分子量下降，材料的机械、电气性能下降。(3)局部放电产生的 活性气体伪，NO,NO,等对介质的氧化作用使介质逐渐劣化。以GIS为例，现今多数GIS 均以S凡作为绝缘介质，SF6虽然性能稳定，不易分解，但在电弧放电所产生的高温作用下， 将分解为硫和氟原子，它们可以与SF6及电极材料中所含氧气、电极的金属、蒸汽等作用而 生成低氮化物，SOF2.SO=F2.SF4.SOF4以及金属氛化物如WFbn当气体中含有水分时，上 述产物还可能发生水解作用而生成HF和S02等，而它们对绝缘材料、金属材料有很强的腐 蚀性III。这样造成了绝缘的隐患，在电压长期作用下，必然要产生局部放电。 2.3基本棋型 cc`..C- .下 K 图1试品介质 图2 等值回路 C.一绝缘完好部分 3.C一‘与绝缘缺陷申联的部分 r一弧道电阻 Cc-绝缘缺陷部分 K，想象的开关，放电时相当于将K合上 如图1，图2所示，在某一电压下.2(CT)放电，其放掉的电荷量4叫作真实放电A. CC放电反映到试品两端，使C.两电极间产生一个电压降，这相当于试品放掉电荷盆(1q称 为视在放电量，9与hC的关系可表示为: 二 Cb q qt Ch+Co OA无法直接测童，但可以侧出q，通过用视在放电Aq表达局部放电的强烈程度。 3.局部放电测量 3.1IEC规定侧f方法及荃本回路 3.1.1测量方法 根据IEC517中的6.1.9.102.b)规定，可采用单相试脸回路，其包括两种试毅方法 (1) 经制造厂同愈，每相主回路导体应轮流接电压源，其余相的导体连同外壳在一起接地 (见圈 3):(2)采用共有一个接地端的两个电源进行实脸. (见图4)主电派连接到一相导体， 辅助电源连接到另一相导体，其电压值的选择应使这两相的相间电压等于主电裸电压的y 倍，第三相导体接到接地外壳，主电派应轮流接到每一相，两带电相间翻得的电压为 uu-,3.1 u-dl.lu cup为预加电压值，u,为侧f电压值，u为设备最高工作电压)。实脸 时，先升至预加电压值，至少10秒后，降至侧A电压值进