- 1、原创力文档(book118)网站文档一经付费(服务费),不意味着购买了该文档的版权,仅供个人/单位学习、研究之用,不得用于商业用途,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等,侵权必究。。
- 2、本站所有内容均由合作方或网友上传,本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺!文档内容仅供研究参考,付费前请自行鉴别。如您付费,意味着您自己接受本站规则且自行承担风险,本站不退款、不进行额外附加服务;查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档,您可以点击 这里二次下载。
- 3、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等,请点击“版权申诉”(推荐),也可以打举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
- 4、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
- 5、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
- 6、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
- 7、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
一种基于累积分布函数的抖动测量方法-北京大学学报自然科学版
北京大学学报 ( 自然科学版), 第 48 卷 , 第 3 期 , 2012 年 5 月
Acta Scientiarum Naturalium Universitatis Pekinensis, Vol. 48, No. 3 (May 2012)
一种基于累积分布函数的抖动测量方法
1,2 1,2,† 1
郭健 冯建华 叶红飞
1. 北京大学微电子学系 , 北京 100871; 2. 北京大学深圳研究生院集成微系统科学工程与应用重点实验室 , 深圳 518055;
† 通信作者 , E-mail: fengjh@
摘要 提出一种基于累积分布函数(CDF) 的抖动测量方法, 以解决在测试高频时钟信号抖动中遇到的延迟器
件不匹配、占用芯片面积过大和受高频振荡信号限制等问题。采用 65 nm CMOS 工艺完成了测试电路的设计
和功能模拟, 模拟结果表明该电路可用于测量 2.5 GHz 时钟抖动值, 抖动测量精度达到 1 ps。
关键词 时钟抖动; 内建抖动测试; 时间数字转换器
中图分类号 TN407
A New On-Chip Jitter Measurement Method
Based on Cumulative Distribution Function
GUO Jian1,2, FENG Jianhua1,2,†, YE Hongfei1
1. Department of Microelectronics, Peking University, Beijing 100871; 2. Key Laboratory of Integrated Microsystem Science Engineering
and Applications, Shenzhen Graduate School of Peking University, Shenzhen 518055; † Corresponding author, E-mail: fengjh@
Abstract The authors present a new on-chip jitter measurement method based on cumulative distribution function
(CDF) to solve the problem of the mismatch of the delay line, taking up too much chip area and limited by high
frequency oscillator signal, which are encountered in measuring multi-GHz clock jitter. The complete circuit is
designed and implemented based on the 65 nm CMOS process. The simulation results show that the circuit is able
to operate at 2.5 GHz and achieves a timing resolution up to 1 ps.
Key words timing jitter; built-in jitter measurement (BIJM); time-to-digital (TDC)
随着集成电路特征尺寸不断减小, 工作频率越 当被测信号的频率超过 5 GHz 时, 测试价格变得非
来越高。当数据和时钟速
文档评论(0)