涂进春-纳米材料与技术精品教学：纳米测试.pptVIP

* * 第三章 纳米材料的检测分析技术 教学目的：讲授纳米微粒的检测分析技术。 重点内容： 透射电子显微镜、扫描电子显微镜、扫描隧道显微镜（STM）和原子力显微镜、 X光衍射仪。 难点内容： 透射电子显微镜、扫描电子显微镜 熟悉内容: 比表面积、激光拉曼光谱、电子探针、离子探针、俄歇电子谱仪 主要英文词汇 transmission electron miroscope Scanning electron microscope Scanning Tunneling Microscope Atomic Force Microscope 纳米材料表征 morphology (the microstructural or nanostructural architecture); TEM, SEM, STM, AFM crystal structure (the detailed atomic arrangement in the chemical phases contained within the microstructure); XRD, ED, LEED chemistry (the elements and possibly molecular groupings present); EDS, XPS, AES electronic structure (the nature of the bonding between atoms). IR, UV X光衍射与谢乐尔公式 1. X光的产生 1895年，德国物理学家伦琴在研究真空管高压放电现象是偶然发现的。 1901诺贝尔物理奖。 产生X射线的X射线管的示意图 阴极 在真空玻璃管内封有阳极a和阴极k，并在阳极和阴极之间加上几万到几十万伏的电压。 阴极k是由钨丝制成的，当钨丝通电加热时就会产生热电子。 电子受高压电场的作用以高速轰击靶面，会把靶面材料中的K层电子空出，处于激发态，其它层的电子跃入，能量降低，发出X光。 Cu 靶 产 生 的 X 射 线 谱 连续X 射 线 特 征 X 射 线 Cu Kα radiation, λ = 1.54178 ? Kα Kβ 入射电子能量损失： 热能，连续X射线，特征X射线。 ? mv2=eV=E=hv=hc/λ 劳厄----晶体作为衍射光栅，证明晶体周期性。 布拉格父子----晶体衍射条件。 1914 1915 诺贝尔物理奖 衍射谱： 不同晶体由于组成的原子不同，或者原子排列方式不同(如石墨，金刚石)，导致X光衍射谱图不同，可用来测样品的晶体结构。 2. 晶体对X光的衍射 光程差QA’Q’ - PAP’= SA’ + A’T = nλ，n为干涉级数，即n = 0、?1…… SA’ = A’T = dsinθ,代入上式得：2dsinθ = nλ 当2dsinθ=nλ时，两条散射光干涉加强，发生衍射。 晶体中有许多晶面列，存在许多不同的晶面间距，对于某一晶列的面间距d已确定，当X光入射光波长确定时，总有一衍射角θ与之对应，使2dsinθ=nλ，产生衍射线。如图 注意：衍射线的强度在实验中通过底片上衍射线(点)的黑度或衍射图中衍射峰的面积或高度来度量。 ZnO的XRD图 C 无定形散射峰：20-30度之间。Why? Cu衍射峰：面心立方，fcc， 峰尖锐。 除干涉加强外，晶体因原子位置和种类不同而引起的某些方向上衍射线消失的现象叫系统消光。如下表 四种基本类型点阵的系统消光规律 布拉菲点阵 出现的反射 消失的反射 简单点阵 底心 体心 面心 全部 h+k 偶数 (h+k+l)偶数 h,k,l全奇或全偶 没有 h+k奇数 (h+k+l)奇数 h,k,l有奇有偶 晶体结构可以看成基元按照一定规律性堆积的结果。基元指一个或者多个离子的集团，排列规律性指各基元按一定对称性周期重复出现，因此它们出现的地点可用一个阵点定位，这种无限多阵点的集合叫晶体 阵点。它是晶体结构集合的直接抽象，故叫正阵点或者实阵点，也叫晶格阵点。 正点阵与倒易点阵 正点阵 倒易点阵 反射球与晶体衍射方向 3. 谢乐尔(Scherrer)公式： 电镜观察的是颗粒度而不是晶粒度。 X射线衍射峰宽化法是测定晶粒度的最好方法。 由于位错、微观应力及表面张力，使得晶粒的同指数晶面间距围绕平衡状态时的晶面间距d0值有一分布。 由2dsinθ=nλ可知，d减小，θ增大；反之亦然。 完整晶体的衍射峰宽度接近零； 纳米粒子某些面间距d的略大略小变化，引起d值分布有一定宽度，晶粒越细，衍射峰越宽。 另外，结晶度低也会引起衍射峰的宽化。 不同结晶度的YVO4的XRD图