全内反射测速技术（TIRV）中界面隐失波基准光强I0的确定 Determination of the interfacial evanescent wave base intensity I0 in total internal reflection velocimetry (TIRV).pdfVIP

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2018-01-29 发布于上海
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全内反射测速技术（TIRV）中界面隐失波基准光强I0的确定 Determination of the interfacial evanescent wave base intensity I0 in total internal reflection velocimetry (TIRV).pdf

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全内反射测速技术（TIRV）中界面隐失波基准光强I0的确定 Determination of the interfacial evanescent wave base intensity I0 in total internal reflection velocimetry (TIRV)

第卷第期实验流体力学，２８６Ｖｏｌ．２８Ｎｏ．６年月 Journal ofEx eriments in Fluid Mechanics ，２０１４１２Ｄｅｃ．２０１４ p  文章编号：（）：／１６７２-９８９７２０１４０６-００８０-０６ doi １０．１１７２９ｓｌｔｌｙ全内反射测速技术（）中 TIRV 界面隐失波基准光强的确定I ０史飞，郑旭，陈荣前，李战华１２１２（中国计量学院计量测试工程学院，杭州；中国科学院力学研究所，北京）１．３１００１８２．１００１９０摘要：基于隐失波全内反射的测速技术（）是微纳流动中测量壁面附ＴＩＲＶＴｏｔａｌｉｎｔｅｒｎａｌｒｅｆｌｅｃｔｉｏｎｖｅｌｏｃｉｍｅｔｒｙ近几百纳米范围内速度的有效方法。隐失波的光强分布（）随离开壁面的高度指数衰减。若荧光粒子位于光 I z z 强分布中，其亮度也将符合此指数关系，通过测量粒子亮度可确定粒子的垂向位置，而确定隐失波的基准光强z I０是该