6sw[理学]TEM中电子衍射相机长度的实验分析及计算.pdfVIP

( ) Vo l. 6 No. 4 第 6卷第 4 期 南京师范大学学报 工程技术版 2006年 12 月 　 JOURNAL OF NANJ IN G NORMAL UN IV ER SITY ( EN GIN EER IN G AND TECHNOLO GY ED ITION ) 　 D ec, 2006 TEM 中电子衍射相机长度的实验分析及计算 王兴和 ,周延怀 (南京师范大学 物理科学与技术学院 ,江苏 南京 2 10097) [摘要 ] 　 ( ) 透射式电子显微镜 Tran sm isson Electron M icroscopy, TEM 中的电子衍射相机长度 ,是电子显微镜设计和对微晶 ( ) 体样品进行电子衍射分析的主要技术参数之一. 依据布拉格 B ragg 定律 ,经对 TEM 中电子衍射成像光路的探讨与研究 ,并 通过 TEM 与普通电子衍射仪的电子衍射的对比分析 ,导出了 TEM 电子衍射相机长度的精确计算公式 , 阐述了 TEM 和普通 电子衍射仪的电子衍射相机长度所表征的物理意义的区别. 同时对 TEM 中的电子衍射分辨率指数进行了分析和讨论 ,并给 出了实际应用金单晶标样精确标定 TEM 电子衍射相机长度的实验方法. [关键词 ] 　透射式电子显微镜 , 电子衍射 ,相机长度 ,相机常数 [中图分类号 ] O463 + . 1　[文献标识码 ] B 　[文章编号 ](2006) 04 007 104 Exper im en ta l Ana ly sis and Ca lcula tion of E lectron D iffraction Cam era l L ength in TEM W AN G X in gh e , ZHOU Ya nhu a i ( School of Physical Science and Technology, N anj ing Norm al U n iversity, N anj ing 2 10097, Ch ina) A b stract: The cam era length of electron diffraction in tran sm isson electron m icro scopy ( TEM ) is one of the m ain techn ical p aram eters in design ing electron m icro scop e and the electron diffraction analysis to m icrocrystal samp le. A c cording to B ragg law , the form u la of calcu lating TEM electron diffraction cam era length is derived from the re search on the ray p ath of electron diffraction im age s in TEM and the comp arison on electron diffraction w ith ordinary electron ic diffractom eter. The difference of p hysical sign i