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[工学]第六章 薄膜工艺
第六章 薄 膜 工 艺 一、物理气相淀积(PVD) 二、化学气相淀积(CVD) 三、外延(Epitaxy) 在微电子工艺中会用到不同种类的薄膜,比如:电介质膜、外延膜、多晶硅膜和金属膜等。 电介质膜:可以用作绝缘材料,掩蔽材料和钝化层等; 外延膜:高质量的单晶膜,对器件进行优化。 多晶硅膜:在MOS器件中作栅电极材料; 金属膜:包括硅化物,用作低阻互连,欧姆接触,金属/半导体整流等。 薄膜工艺 物理气相淀积:薄膜淀积过程是物理过程,如蒸发、溅射等。 化学气相淀积:薄膜淀积过程是化学反应过程,如常压化学气相淀积(APCVD)、低压化学气相淀积(LPCVD)等。 外延:包括物理气相淀积和化学气相淀积,所生长的薄膜是单晶,因此具有特殊性,其制备技术包括化学气相淀积、分子束外延(MBE)等。 一、物理气相淀积工艺 物理淀积工艺主要用作金属和难熔金属硅化物薄膜的制备。它们在微电子器件中主要是作为欧姆接触、互连、栅电极等方面用的薄膜。 物理淀积主要包括:蒸发和溅射。 早期半导体工艺中的金属层全由蒸发淀积,但目前大多被溅射代替,原因有二:一是蒸发的台阶覆盖能力差;二是蒸发难以生产合金。 1、物理淀积的基本知识 真空系统:物理淀积必须在真空环境中进行,否则由于空气分子的碰撞作用,将严重妨碍物理淀积的过程。真空度则依淀积方法和淀积物的性质而异。 等离子体:等离子体产生是溅射工艺的物理基础,是等离子产生和运动的过程。 1.1 真空系统的产生和密封 真空度的常用单位有托(Torr)、大气压(atm)、毫米汞柱(mmHg)、帕斯卡(Pa)等。其关系如下: 真空范围的近似分类 真 空 泵 真空的产生要依靠真空泵。而在低真空和高真空情形下,要分别使用不同的泵。 低真空下一般使用机械泵,其抽真空过程可以分为三个步骤:捕捉气体,压缩气体,排除气体。比如:活塞泵,旋转叶片真空泵,罗茨泵等。 高真空下使用扩散泵、分子泵和低温泵。工作原理有两种:一是转移动量给气态分子而抽取气体(扩散泵和分子泵);二是直接俘获气体分子(低温泵)。 1.2 等离子体产生 等离子体是除了固态、液态、气态之外的第四态。 它是部分离子化的气体,包括离子,电子和中性原子。特点是:导电性,宏观上的中性。 在这个系统中,等离子体靠二次电子的发射维持。等离子体主要包括:正离子、电子、中性气体分子或原子。 直流等离子体的组成 直流等离子体由各种辉区和暗区组成。暗区是离子和电子获得能量的加速区;辉区是不同粒子发生碰撞、复合、电离的区域。 直流等离子体的组成包括:阿斯顿暗区、阴极辉区、阴极暗区、负辉区、法拉第暗区、正辉柱、阳极辉区和阳极暗区等区域。 该系统中,二次电子的发射不再是维持等离子体的必要条件。 问题:射频等离子体中,等离子体和电极之间的电位分布是怎样的? 答:由于电子的运动速度远大于离子的运动速度,因此电子会在电极上大量堆积,造成电极处于低电位,电极附近的压降与电极面积的4次方成反比。 高密度等离子体的产生 从本质上来说,是利用电场或磁场来增加电子的射程,增加电子与气体的碰撞机率,从而增加离子的数量。 磁控等离子体:利用磁场增加电子与气体原子(分子)的碰撞机率; 电感耦合等离子体:当射频电流流过线圈时会产生感应磁场,利用感应磁场增加电子与气体原子(分子)的碰撞机率; 电子回旋共振等离子体:利用交变电场和磁场的频率耦合,使电子作圆周运动,从而增加电子与气体原子(分子)的碰撞机率。 1.3 物理淀积-蒸发 定义:将固体源(如铝、钨、钛等)加热熔化,产生的蒸气在真空中直线运动抵达晶片表面,堆积成薄膜。 根据加热方式,可将蒸发系统分为:电阻热蒸发、电感热蒸发和电子束蒸发。 一个简单的蒸发台 蒸发淀积速率 影响蒸发速率的因素 温度:实际上确定了蒸气压。温度越高,蒸气压越大,淀积速率越快,但需要控制淀积速率不能太大,否则会造成薄膜表面形貌变差。 视角因子:确定了晶片淀积的均匀性,可以调整晶片的位置,使它们与坩埚在同一圆周上。 蒸发工艺的缺陷 一台蒸发台用于蒸发铝,铝材料温度加热到1100℃。蒸发器的行星转动机构半径是40cm,坩埚直径5cm,铝的淀积速率是多少?铝的密度:2.7g/cm3。 作 业 希望用一台单源蒸发台淀积Ga和Al的混合物,如果淀积温度是1000℃,坩埚内的初始混合物是1:1,两种成分黏滞系数都为1,则蒸发初期膜的组成将是怎样?膜的组成如何随时间变化? 1.4 物理淀积-溅射 溅射的物理机制:是利用等离子体中的离子对靶材料进行轰击,靶材料原子或原子团被发射出来,堆集在晶片衬底上形成薄膜。 与蒸发工艺相比:台阶覆盖性好,容易制备合金或复合材料薄膜。 离子入射到到晶片表面时,可能产生的结果 影响溅射速率的因素 离子质量:离子质量增大,溅射速率有上升的趋势,但随原子序数呈周期性起伏。 离子能
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