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[经管营销]IC fail Analysis For Analog Clockup
Organization Background DCX §CDX生产线上出现大量返工,这些返工均涉及到测试与电容 相关问题。 据统计,自 03年 12月 至 04年 1月 : DCX 返工达 316只,返修量占产品生产量的 2.7%~3%。 CDX 返工达 55只,返修量占产品生产量的0.37%~0.77%。 返工产品需将制成产品拆卸,掉换电容后再安装,这过程埋藏着潜在的质量隐患。 返工占用了本已紧张的人力,设备等资源,影响准时交货。 DCX §CDX二个产品按照二年产品周期计算,COPQ估计损失达 55 US$. Team Member 团队队长 : 张兵 团队成员 : 沈翔宇,刘刚,范军,郑波,杨建军,凌晓涛,沈于庭,丁文斌 Current Status Dec-03 缺陷返修 CDX 3654 PPM DCX 30042 PPM Scope Target 04年五月底完成该项目. DCX低于 5300PPM,改进原缺陷的 80%。 CDX 低于 2300 PPM ,改进原缺陷的 70%。 节省 COPQ 40k US$. Resource Share production and quality equipment. SQE and supplier support for components. Visteon technical support for these parts. Manager and supervisor strong support. 2 k US$ fee. Schedule Flow Chart Introduction 状态 A. 产品 DCX在 ICT后发现大量电容 (N447872CFDDSAB) 容值偏低。 过程检查未发现原因。 处理方式是 :返修-掉换电容。 Measure Measure Measure Measure Measure Analysis Analysis Improvement 取 100个 电容 (N447872CFDDSAB) 按常规 1kHz测其容值,得平均值 :363.52 按规范 120Hz测其容值,得平均值 :475.77 二数比较得修正系数 :1.31 供应商提供修正系数 :1.30 取系数1.30修改 ICT测试参数。 Introduction 状态 B CDX/DCX在 性能测试后发现 3%产品因负载直流过大而被拒出。 怀疑电容 (N422872CFDDSAB) 问题。 怀疑 PCB涂层问题。 处理方式是 :返修-掉换电容。 Measure Measure Measure Measure Measure Analysis Analysis DCX 产品与电容漏电的相关测试参数 5.1.3,呈单向分布,故微小的变差就会造成测试失败。 Analysis 研究 DCX测试失败的相关参数,其八个声道超差呈无规律状。 Analysis 电解电容在DC50V,60秒条件下,每间隔N小时记录测试数据,发现电容漏电呈下降趋势。 Analysis 电解电容模拟正常状态的工作电压DC5V,连续测试漏电流,发现电容漏电呈下降趋势。 漏电下降与负载DC电流下降相吻合。 Analysis CDX 测试失败的相关参数,在正常通电状态下呈下降稳定趋势。 Analysis CDX的 DC Offset 测试数据显示 :剔除了超差值 (较大的电容漏电),该测试项目的CPK达 15。 Analysis 取 9个 CDX测试失败的产品,在通电老化处理后,8个产品测试转为正常,效率89%。 Analysis DCX 涂层固化时间不同 测试项目的CPK a) 6.1.1,从0.25提高到2.65 b) 6.1.3,从10.3提高到10.66 Analysis DCX 的 DC offset 的指标,客户(ES)未作要求。 过大的DC负载电流会造成DCX的自动停机保护。 将部分未通过测试的产品作试验,电解电容漏电特性与测试 DC电流有关。 在50V一分钟条件下, 任抽 50只电容 测试漏电,平均值为 0.140uA。抽取 50只测试失败的产品,检测相关电容漏电为 0.944uA。供应商漏电规格小于 10uA。实际漏电大大小于规格上限。 据漏电变化曲线,电解电容在出厂后,漏电亦呈上升趋势。 Analysis 漏电电容在加50VDC后,漏电明显可以改善。测试通过率为 71%。 在正常工作电压(加 5VDC)下,漏电趋小。通电一小时,漏电可以改善,测试通过率为 63%。 标准漏电测试的通电时间是2分钟,捕捉电解电容漏电推荐时间是 5分钟。DEX 测试时间是 0.5分钟,CDX是 2 分钟。测试通电时间小于需要时间。 DCX 目检声道平衡
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