使用双FID和微板流路技术中心切割在室温下分析CC10烃-Agilent.PDF

使用双FID 和微板流路技术中心 切割在室温下分析C1-C10 烃类， 包括C1-C6 链烷烃/烯烃异构体的 分离 应用简报 扩展烃分析仪 作者 摘要 Kelly Beard 和Shannon Coleman 使用微板流路控制技术 (CF ) 中心切割开发出一种在单次进样中无需低温冷 安捷伦科技公司 却即可分析 C1– C10 烃类的方法。本应用简报介绍了一种对气相和液相样品 美国 中的C1– C6 链烷烃/烯烃和扩展烃类的高分离度分析方法。 前言 载气流由中心切割装置输送 （图1）。这种配置将轻质组 分中心切割至HP-PLO Q 色谱柱，实现了进一步分离。 在分析沸点范围很宽的烃类样品时，通常使用非极性毛 这一配置的进样方法有三种： 细管柱根据沸点特性分离烃类。沸点色谱柱为重烃组分 提供了良好的分离度。然而，在存在高浓度C1-C4 烃类 • 由加热的气体样品钢瓶直接进样，或通过气体进样阀 时，轻烃组分的分离度较差。沸点色谱柱也并非分离 从运行过程中直接进样 C4/C5 烯烃的理想色谱柱选择。PLO 色谱柱为轻烃组分 • 通过液体进样阀从活塞式加压液体样品钢瓶直接进样 提供了更高的分离度，但是它们对于重质组分存在回收 率问题，难以进行重烃分析。该问题的一种解决方案是 • 用进样针直接进样至GC 进样口 采用配置沸点色谱柱和PLO 色谱柱的CF 中心切割装置。 该配置能够同步分离所有组分，同时杜绝了重烃在 沸点色谱柱用于分离重烃组分，而 PLO 色谱柱用于分 HP-PLO Q 色谱柱上产生污染和吸附的可能性。 离轻烃组分。 该分析采用配备4 通液体进样阀 （与6 通气体进样阀串 应用 联）与分流/不分流进样口的Agilent 7890A 气相色谱仪以 在这一具体的应用中，需要测量乙烯和丙烯中浓度低至 及配置DB-1 (123-106B) 和HP-PLO Q (19091P-QO4P ) 色谱 1 ppm 的C1-C10。低浓度乙烷、丙烷和重烃的分离需要 柱的CF 中心切割装置。将DB-1 配置为第一维色谱柱， 在20 分钟内完成。如果样品不含水且C4 和C5 烯烃需要 而将 HP-PLO Q 配置为第二维色谱柱，其中较短的限流 高分离度，则可以用Alumina PLO 替代 HP-PLO Q 色谱 器色谱柱与第二维色谱柱相对以平衡中心切割。处于关 柱。在该应用中，选择在HP-PLO Q 色谱柱上分析C1– C5 ， 闭位置时，DB-1 色谱柱的流出物流向直接通向后 FID 的 而选择在DB-1 色谱柱上分析C6 及C6 以上的烃类。通过 固定短限流器，而 HP-PLO Q 色谱柱载气流则由中心切 在关闭中心切割的情况下进样 C1-C6 直链气相链烷烃标 割装置输送。当中心切割切换为开时，DB-1 色谱柱的流