[工程科技]材料综合实验-第二讲.pdf

材料综合实验 2011.2-3 第二讲 材料微观分析 • 金相分析 金相分析是研究材料内部组织和缺陷的主要方 法之一，它在材料研究中占有重要的地位。利用金 相显微镜将试样放大100~1500倍来研究材料内部 组织的方法称为金相显微分析法，是研究金属材料 微观结构最基本的一种实验技术。显微分析可以研 究材料内部的组织与其化学成分的关系；可以确定 各类材料经不同加工及热处理后的显微组织；可以 判别材料质量的优劣，如金属材料中诸如氧化物、 硫化物等各种非金属夹杂物在显微组织中的大小、 数量、分布情况及晶粒度的大小等。 第二讲 材料微观分析 • 金相分析 光学显微镜（OM）(金相显微镜)成像原理 D A’’ f物 L A’ B F2 F1 A 人眼 物镜 B’ 目镜 B’’ f 目 第二讲 材料微观分析 • 金相分析 光学显微镜（OM）(金相显微镜)成像原理 • 被观察的物体AB放在物镜之前距其焦距略远一些的 位置，由物体反射的光线穿过物镜，经折射后得到 一个放大的倒立实象，目镜再将实像放大成倒立虚 像，这就是我们在显微镜下研究实物时所观察到的 经过二次放大后的物像。 • 在设计显微镜时，让物镜放大后形成的实像位于目 镜的焦距f 目之内，并使最终的倒立虚像在距眼睛 250mm处成像，这时观察者看得最清晰。 第二讲 材料微观分析 • 金相分析 光学显微镜（OM）(金相显微镜)成像原理 透镜成像规律是依据近轴光线得出的结论。近 轴光线是指与光轴接近平行（即夹角很小）的光 线。由于物理条件的限制，实际光学系统的成像与 近轴光线成像不同，两者存在偏离，这种相对于近 轴成像的偏离就叫做像差。像差的产生降低了光学 仪器的精确性。按像差产生原因可分为两类：一类 是单色光成像时的像差，叫做单色像差，如球差、 慧差、像散、像场弯曲和畸变均属单色像差；另一 类是多色光成像时，由于介质折射率随光的波长不 同而引起的像差，叫做色差。色差又可分为位置色 差和放大率色差。 第二讲 材料微观分析 • 金相分析 光学显微镜（OM）(金相显微镜)成像原理 透镜成像的主要缺陷就是球面差和色差 （波长差）。球面差是指由于球面透镜的中 心部分和边缘部分的厚度不同，造成不同折 射现象，致使来自于试样表面同一点上的光 线经折射后不能聚集于一点（见下图），因