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无损检测RT复习资料

★ 射线照相应用了射线的那些性质? (1)在真空中以光速直线传播; (2)不带电,不受电场和磁场的影响; (3)不可见,具有极大的能量,能穿透可见光不能穿透的物体 ; (4)在穿透物质的过程中,会与物质发生复杂的物理和化学作用,例如:电离作用、荧光作用、热作用及光化学作用。 X射线连续谱中的最短波长 只依赖于管电压V而与靶材料无关。 X射线的产生效率与管电压和靶材料原子序数成正比。 X射线连续谱的产生机理: X射线连续谱是韧致辐射产生的。 是高速运动的带电粒子在与靶材料原子碰撞的过程中产生的电磁辐射。 标识X射线的产生机理: 处于激发态的原子在向稳定态(低能级)跃迁的过程中要释放能量,该能量以一个光子的形式向外辐射,此即标识X射线。 或者说,X射线的标识谱是原子能级之间的跃迁而产生的。 *并非每一次衰变都发射γ射线。 *放射性同位素的能量不随时间改变,。 *γ射线是原子核能级之间的跃迁产生的。 γ射线的产生机理: γ射线是放射性同位素经过α衰变或β衰变后,在激发态向稳定态过渡的过程中从原子核内发出的,这一过程成为γ衰变,或γ跃迁。 γ射线是原子核由高能级跃迁到低能级而产生的。 X射线和γ射线的相同点 : (1)都是电磁波,本质相同; (2)都具有反射,折射等光学性质; (3)都能使胶片感光; (4)都是电离辐射能对人和生物造成危害; (5)穿过物体时具有相同的衰减规律. 影响半值层T1/2的因素: 能量愈大(λ愈小),半值层愈厚; 穿透物质的原子序数Z越大,半值层越小; 穿透物质的密度越大,半值层越小; * 针对某一被穿透物质,半值层不是一个常数,只有射线波长为常数时半值层才可能是一个常数。 随着穿透厚度的增加,线质逐渐变硬,平均衰减系数逐渐减小,而平均半价层逐渐增大。 例题2: 射线检测工件时,用探测器检测到,没有缺陷部位的一次射线透照强度为150mR/h,缺陷部位的一次射线透照强度为165mR/h,,衰减系数0.2 ,散射比1.75,若忽略缺陷的衰减系数,求透照方向缺陷的厚度。 解:由题意IP=150mR/h, IP’=165mR/h, n=1.75, μ=0.2 若忽略μ’ = IP’-IP=165-150=15mR/h 由I = IP(1+n)=150×(1+1.75)=412.5 由主因对比度公式: 答:透照方向缺陷的厚度为5mm. 第二章 训机目的:提高X管真空度,稳定工作。 训机方法:低mA ;从低KV逐渐升到高KV 同种源活度大则辐射γ强度大;非同种源则不一定。 γ源不是每个核的衰变都放出γ光子,如Tm170 只有总数的8%。 同类胶片,银盐颗粒越粗,感光度S越高。 通常感光度S愈大则灰雾度D0愈大 在射线照相应用范围内,使用的是非增感型胶片,梯度G值随黑度的增大而增大。 卤化银粒度对胶片性能的影响 1、胶片颗粒度对胶片特性参数的影响 颗粒度大,感光度高、梯度小、宽容度大 2、胶片颗粒度对底片使用性能的影响 胶片颗粒度大,底片颗粒度大、分辨率低、信噪比低 金属增感屏 金属箔的作用: 增感效应:射线照射后,金属萡激发产生二次电子和二次射线,能量低,胶片易吸收,起到增感作用。 吸收效应:吸收波长较长的散射线,减少灰雾度,提高对比度。 像质计的作用 ①作用:是检查和定量评价射线底片影像质量的工具。 通常用来测量射线照相灵敏度,只有双丝像质计是用来测量射线照相不清晰度的。 像质计的材料 低原子序数材料制作的像质计可以用于高原子序数材料制成的工件照相。或: 低吸收系数μ的材料制作的像质计可以用于高的吸收系

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