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磁光柯尔效应
磁光柯爾效應
【目的】
1.認識金屬材料 (鈷或鐵、鍍鋁 )的磁性及其差異。
2.利用磁光柯爾效應儀來測量、研究金屬材料(鈷或鐵、鍍鋁)的磁滯曲線圖。
3.利用磁光柯爾效應儀來測量、研究磁性記錄材料的磁滯曲線圖。(加分)
【原理】
將線偏振光(由 左旋圓偏振光和右旋圓偏振光所組 成)入射於磁性材料反射後,由於左
旋圓偏振光與右旋圓偏振光在樣品中傳播速率不同而產生相位差,再加上左旋圓偏振光與右
旋圓偏振光的吸收程度不同而造成振幅不相同,經過樣品反射後,轉為 橢圓偏振光的現象,
稱為磁光柯爾效應( Magneto Optical Kerr Effect ,簡稱 MOKE )。此橢圓偏振光的長軸與原
線偏振光的夾角 θ稱之為柯爾旋轉角,橢圓偏振光的橢圓 率 ε稱之為科爾橢圓 率。一般
K K
來說, θ和 ε皆很小 (1°),且與磁性物質的磁化強度 M 成正比,因此,量測 θ或 ε
K K K K
隨外加磁場改變的情形,便可以反應出磁性物質的磁化曲線。
磁光科爾效應依據入射光偏振方向可分為 P mode及 S mode 兩種。P mode是指入射光的
偏 振方向和光入射平面平行,而 S mode則是指入射光的偏振方向和光入射平面垂直,如圖 一
所 示。
圖 一線偏振光的 P mode及 S mode 示意圖
當選定入射光為 P波狀況下,因科爾旋轉角 θ及科爾橢圓 率 ε 正比於樣品的磁化強
K K
E
度 M ,反射光的P波及 S波電場分量 與 θ及 ε 有以下的關係式: S =θ +iε
K K K K
E
P
E
S
E 為 P波電場分量 ,E 為 S波電場分量 ,因此,只要量測 便可以得到科爾訊號。定
P S
E
P
義檢偏器轉至平行 S波方向時的角度為 0° ,然後調整一個小角度δ (δ≈0 °),此時反射光的
強度 I可以用下式表示: I=|E sinδ+E cos δ︱2
P S
由於科爾旋轉角很小,因此 ,反射光在 S波方向的分量遠小於在 P波方向的分量 ,所以,
2 2 2 2
E E ,則:I ≈ E |δ+θ +iε ︱≈ |E ︱ (δ +2 δθ )
S P P K K P K
磁光Kerr 效應-1
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