[管理学]SPC统计制程管制.pptVIP

SPC SPC(Statistical Process Control)統計製程管制 SPC agenda 課程主題 What is SPC Ca/ Cp/ Cpk的計算 X bar – R chart X bar – R chart的判讀 Pre-control chart 計劃導向 ? 市場導向 為何推行 SPC 掌握品質的變化因素 縮短產品上市周期 做出高品質產品 持續性高品質原料供應 What is統計 ??? Andy Chen 何謂統計 統計學 定義 : 統計是數學的一個分支, 是用來討論如何進行資料的收集、分析、解析以及大量數字資料的系統化表示 意義 : 是從本質上了解制程或樣本,避開表面現象, 更准確、有效、更迅速地進行改善或調整. SPC的基本理論是 … 評定制程狀況的幾個定義 制程准確度Ca = 2 x ∣平均值 - 規格中心∣/ 公差裕度 制程精密度Cp = 公差裕度/ 6 x 標准差 制程精確度Cpk = ∣公差裕度 – 2 x 中心偏移量∣/ 6 x 標准差 or Cpk=Cp(1-Ca) or min ∣上限 - 平均值∣, ∣平均值 - 下限∣/ 3 x標准差 Cpk計算 Cpk等級的評定標准 1.33 ≦ Cpk : 為 A級? 代表制程穩定 1.0 ≦ Cpk ＜ 1.33 : 為 B級? 代表有不良發生的机率, 必須加以注意 0.83 ≦ Cpk ＜ 1.0 : 為 C級? 應檢討規格及作業標准 Cpk ＜ 0.83 : 為 D級? 應采取緊急措施, 全面檢討, 必要時應停止生產 SPC管制目的 SPC (Statistical Process Control) 統計制程管制 : 是由制程調查來改進制程能力, 不斷降低產品品質的變異性, 而達到提升產品品質的一種方法, 其主要工具為管制圖. 品質變異的原因 機遇原因 (Chance cause)不可避免的原因、非人為的原因、共同原因、偶然原因、一般原因, 是屬於管制狀態的變異. 非機遇原因 (Assignable cause)可避免的原因、人為原因、特殊原因、異常原因、局部原因等. 此種原因, 應采取行動, 使制程恢復正常, 進入管制狀態. 管制圖 是一種以實際產品品質特性與根據過去經驗所判明制程能力的管制界限比較,而以時間經過用圖形表示者 管制圖的種類 (性質分類) 計量值管制圖 (Control Charts For Variables) 平均值與全距管制圖 (X-R Chart) 中位值與全距管制圖 (X-R Chart) 個別值與移動全距管制圖 (X-Rm Chart) 平均值與標准差管制圖 (X-σ Chart) 計數值管制圖 (Control Charts For Attributes) 不良率管制圖 (P Chart) 不良數管制圖 (Pn Chart or d Chart) 缺點數管制圖 (C Chart) 單位缺點數管制圖 (U Chart) 管制圖的種類 (用途分類) 管制用管制圖? 先有管制界限, 后有數據 解析用管制圖? 先有數據, 后才有管制界限 平均值與全距管制圖 (X bar-R Chart) X-R管制圖的定義 在計量值管制圖中, X-R管制圖系最常用的一種, 所謂平均值與全距管制圖, 系平均值管制圖 (X Chart)與全距管制圖 (R Chart)二者合並使用 平均值管制系管制平均值的變化, 即分配的集中趨勢變化; 全距管制圖則管制變異的程度,即分配的離散趨勢的狀況. 管制圖的意義 管制圖是一種品質的圖解記錄. 在圖上有中心線(規格值)及二條管制界限. 中心線是一種規格值, 二條管制界限是容許產品的品質特性在其間變動的范圍. 在制造過程中用抽查的方式, 將樣本的統計量, 點繪於圖上, 用以判斷品質的變異是否顯著. X bar-R Chart繪制步驟 (建立解析用管制圖) 選定管制項目 收集數據 100個以上, 並予適當分組后記入數據記錄表. 樣本大小 (n)=2~5 (解析用)組數 (k) = 20 ~ 25 計算各組平均值 (X)X bar = (x1 + x2 + … + xk)/ n 計算各組全距 (R)R = Xmax - Xmin (各組最大值 - 最小值) X bar-R Chart繪制步驟 (建立解析用管制圖) 計算總平均值 (X)X = (x1 + x2 + x3 + …+ xk)/ k 計算全距之平均值 (R)R = (R1 + R2 + R3 + … + Rk)/ k 計算管制界限及繪出 X管制圖 中心線 : CLx = X 上限 : UCLx = X + A2R 下限 : LCLx = X - A2R X bar-R