[自然科学]1-1 X射线物理学基础.ppt

上述推导，可得如下结论： λkαλkβ,但kα谱线的强度约为Kβ的5倍。因为在K激发状态下，L层电子向K层跃迁的几率远大于M层跃迁的几率。 由于L层内尚有能量差别很小的亚能级，不同亚能级上电子的跃迁所辐射的能量小有差别而形成波长较短的Kα1谱线和波长稍长的Kα2谱线。由L层内不同亚能级电子向K层跃迁所发射的kα1谱线和kα2谱线的关系是：λkα1λkα2，Ikα1≈2Ikα2。在一般情况下，它们是分不开的，这时，Kα线的波长取双线的波长的加权平均值： 1.3 X射线与物质的相互作用 X射线与物质相遇时，会产生一系列效应，比如， （1）与可见光相比具有无法比拟的穿透力； （2）可使荧光物质发光； （3）可使气体或其它物质电离； （4）可使晶体产生衍射等。 这是X射线应用的基础，这些相互作用的本质也就得到逐渐深入的认识。 入射到某物质的X射线无非可分为穿透和吸收两部分。下面将主要介绍X射线的吸收、散射。 1.3.1 X射线的透射系数与吸收系数 如图所示，取厚度为t的均匀物质；入射X射线的强度I0；透过物质后的X射线强度为I； 在物质深度X处的一厚度dx,其强度的衰减为dIx/Ix； 实验证明，dIx/Ix与成正比 (“-”号表示与符号相反) （1—10） 即 ?l.?常数，称为线吸收系数，表明物质对X射线的吸收特性。 或 称为透射系数 讨 论： (1-11) 由（1-10）式知, 即?l表达X射线通过单位厚度(即单位体积)物质的相对衰减量 2）为表达物质本质的吸收特性，提出质量吸收系?m 即令 (?-密度) (cm2?g) (1-12) 由(1-11)有 (1-13) 式中 m = ?t 为单位面积厚度为t的体积中的物质量. X射线通过单位面积上单位质量物质后强度的相对衰减量。这是摆脱了密度的影响，成为反映物质本身对X射线吸收性质的物理量。 若吸收体是多元素的化合物、固溶体或混合物时，质量吸收系数?m仅决定于各组元的质量吸收系数?mi及各组元的重量百分数wi，即 （1-14） n 为吸收体中的组元数 由此可知, ?m的物理意义： 质量吸收系数决定于吸收物质原子序Z和X射线的波长?，其关系的经验式为 （1-15） K4是常数。 Z越大，?m越大，吸收越强 对一定的吸收体，λ越短，μm越小，X射线穿透越强，且随λ减小，μm并不呈连续的变化，而是在某些波长的位置突然升高，出现了吸收限。每种物质都是有确定的一系列吸收限，这种带有特征吸收限的吸收系数曲线称为该物质的吸收谱。 一些元素的质量吸收系数见表附录5（P.324） 1.3.2 X射线的真吸收 1. 吸收原理： 吸收系数突变的现象可用X射线的光电效应来解释。 如图所示，光电效应消耗大量入射能量，表现为吸收系数突增，对应的入射波长即为吸收限。 K层电子对应的K吸收限为 （1-16） 式中wk—K层电子的结合能 L壳层电子包括三个亚能级L1、LII、LIII，对应吸收限为λL1、λLII和λLIII　。 光电效应导致被照物质处于激发态，电子跃迁产生被照物质的特征X射线谱。 K层被激发，分别由L、M层电子跃迁发生的能量关系可表达为： L ? K M ? K 显然，对同一元素，λKλK?λK? 这就是同一元素的X射线发射谱与吸收谱的关系。 荧光效应 由入射X射线激发出来的特征X射线称为荧光辐射（荧光X射线、二次X射线），是被照物质化学成分的信号。荧光效应用于重元素（Z20）的成分分析。 俄歇效应：（EKLL电子）??? 如图，一个K层电子被入射光子击出后，L层电子跃入K层空位，多余的能量使另一个L层电子跃出，称为EKLL。这样一个K层空位被2个L层空位代替的过程称为俄歇效应。EKLL电子能量是吸收体元素的特征。俄歇效应用于表层轻元素的分析。 hν e e Auger e 真吸收--光电效应所造成的入射能量消耗，同时还包括X射线穿过物质时所引起的热效应。 例 题： 对于同一种材料，有λκλβλα，试证明此式成立，并据此分析下列荧光幅射产生的可能性：（1）Cu Kα辐射激发Cu Kα荧光辐射；（2）Cu Kβ激发Cu Kα荧光辐射。 （1）证明 λκλβλα 证明: 原子核外壳层电子对应的吸收限为 式中,wn-第n层电子的结合能。 光电效应导致被照物质处于激发态，电子跃迁产生被照物质的特征X射线谱，能量关系为 （1） 则有 （2） 即 （3） 又 有 （4） （5） 由（3）和（5）得λκλβλα * 第一篇 材料X射线衍射分析 X射线物理学基础 X射线衍射原理 物相分析与点阵参数精确测定 宏观残余应力测定 多晶体织构的测定 X射线衍射方法 X射线衍射