伺服系统性能测试系统的开发研究.pdfVIP

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2018-02-21 发布于河南
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伺服系统性能测试系统的开发研究.pdf

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伺服系统性能测试系统的开发研究

工艺与检测伺服系统性能测试系统的开发研究! 张思弟饶华球李宏胜（南京工程学院，江苏南京!##$）摘要：伺服系统性能对数控机床精度有较大的影响，对于不同的实际工作情况伺服系统会有不同的性能表现。文章提出了伺服系统联机前性能测试优化的理念，并对据此开发的测试系统作了较为详尽的介绍。关键词：数控机床伺服系统性能测试优化 !#$%’() %* +,*%,’-(. /0) 120)’ *%, 343 5-.67( /%%$ 1,#% ，， %’() *+,+ -’. /01+/ 23 （，，） (05:+56 ;56+599+56 =4969 (05:+56 !##$ =( ： !#$%’$ ?89 @9A4B05C97 4A 79D4 80D9 0 690E +5A/95C9 /@45 E89 @9C+7+45 4A =(= B0C8+59 E44 F ?89 +5,9G97 4A 79D4 D0H 0CC4,+56 E4 E89 ,+AA995E I4J+56 C45,+E+457 F ?8+7 @0@9 @9795E7 E89 +,90 E80E E89 79D4 C05 K9 E97E9, 05, 4@E+B+L9, /5,9 E89 91/0 7E0E9 K9A49 C4559CE9, I+E8 E89 B0C8+59 E44， 45 E89 K07+7 E89 E97E 7H7E9B ,9D94@9, +7 +5E4,/C9, +5 ,9E0+ F ：；；；； ()*+,%-# =(= M0C8+59 ?44 *9D4 N9A4B05C9 ?97E .@E+B+L0E+45 伺服系统的性能对数控机床的精度有很大的影 B+5；伺服系统模拟量控制输出为全电气隔离，隔离电响，如果不能准确掌握其与主机配接后所表现的特性，压，位分辩率，误差，（ O## S ! T # P#! U ONNMR V # Q 将会给机床的最终调试带来很大的困难。目前国内机 O# V ），；转矩控制模拟量输出为全电气隔 # Q T # S 离，隔离电压，位分辩率，误差，床厂普遍根据经验进行调试，盲目性大，调试周期长， O## S ! T # P#! U （），；编码器最大信号频率且很难保证系统处于最佳工作状态。 ONNMR V # Q O# V # Q O S 为了保证机床整机性能，缩短调试周期，必须配套 ML，四级硬件数字滤波。一种能在上机床前对伺服系统进行性能测试的装