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2018-02-24 发布于浙江
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一、工业CT原理与发展 Copyright © 2008 ICT Research Center,Chongqing University. All rights reserved. Page 0 CT及DR成像原理 CT成像是利用射线从多个方向透射工件某断层，通过探测器检测由工件衰减后的射线信息，由计算机对采集的数据进行图像重建，以二维图像形式展现所检测断层的密度分布 DR成像则使射线从单一方向穿过工件，对检测的信息进行重建后，以二维透视图像形式展现所检测方向的重叠密度分布 Copyright © 2008 ICT Research Center,Chongqing University. All rights reserved. Page 1 射线衰减原理 x I I e − μx 0 I0 μ I μx − lnk 0 I ln I x x 1 2 I I + μ x μ x − lnk 0 I ln 0 μ μ 1 1 2 2 1 2 I 物体的衰减系数往往与密度成正比关系，通过测量衰减系数就可测量出对应的密度分布 Copyright © 2008 ICT Research Center,Chongqing University. All rights reserved. Page 2 重建原理 μ μ μ I + =+⎧ 1 2 3 1 ⎪ μ μ μ I + =+ 4 5 6 ⎪ 2 μ μ μ⎪ I u u u I + =+ 1 2 3 7 81 9 ⎪ 3 μ μ I =+ 2 6 4 ⎪ u4 u5 u6 I2 ⎪ μ μ μ I + =+⎨ 1