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运用材料学方法确定阴极保护下限电位值-南京工业大学学报自然
19 1 Vol. 19 No. 1
1997 1 JOU RN L OF N NJIN G UNIVERSITY OF CHEMIC L TECHNOLOGYJan. 1997
方耀华 邱开元 魏宝明*
(南京化工大学应用化学系, 南京,210009)
, , 16 Mn -3%NaCl
- 900 mV(vs.SCE) ,
16 Mn 3%NaCl
TG 174. 41
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[ 14]
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[5]
RP-01-76( 1976) - 0.80V( vs. g/ gCl)
[6]
,- 0.96V(vs. g/ gCl) ,
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- 1000 mV - 980 mV(vs. g/ gCl)
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,
: 1996-01-27
46 19
1
[7]
2
2. 1( V- ) (Z) () (FH ) ( )
16 Mn ,[ 7]
2. 2[7]
1 ( 16 ,3% , 25 ,7.5610- 7 - 1)
SSTR M n NaCl s
a
b- 920 mV(vs. SCE) + +
c- 970 mV(vs. SCE) + +
d- 1080 mV(vs. g/ gCl)
Fig. 1SSRT fracture morphology under different cathodic polorized potentials
1 : 47
2. 2. 1
- 7 - 1
3%NaCl 16 Mn ,7.5610 s
(- 920 mV- 970 mV - 1080 mV(vs.SCE)) ,
1, , ,,
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, 16 Mn ,45,1a
16 Mn ( )
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,16 Mn
,,16 Mn
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2. 2.2(SEM)
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