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[生物学]互换性第3课
第5章 表面粗糙度与检测 本章学习要点 概述 表面粗糙度的基本知识 表面粗糙度的选择 表面粗糙度的标注 表面粗糙度的检测 综合实训 本章小结 5.1 概述 5.2 表面粗糙度的基本知识 5.3 表面粗糙度的选择 5.4 表面粗糙度的标注 5.5 表面粗糙度的检测 5.6 综合实训 本章小结 (2)多个表面有共同表面结构要求的简化注法 当多个表面有共同的表面结构要求或图纸空间有限时,也可采用简化注法。 可用带字母的完整符号,以等式的形式,在图形或标题栏附近,对有相同表面结构要求的表面进行简化标注,如左图所示。 可用表5-9所示表面结构符号,以等式的形式给出对多个表面共同的表面结构要求,如右图所示。 3.两种或多种工艺共同获得的同一表面的注法 由几种不同的工艺方法获得的同一表面,当需要明确每种工艺方法的表面结构要求时,可按下图所示进行标注。 5.5.1 比较法 比较法是指将被测表面与已知高度特征参数值的表面粗糙度样板进行比较,通过肉眼观察、手动触摸,或借助放大镜、显微镜等来判断被测表面粗糙度的一种检测方法。比较时,所用表面粗糙度样板的材料、形状、加工方法及纹理方向等应尽可能与被测表面相同,以减少检测误差。 比较法简单易行,适用于在车间条件下使用。但由于其评定结果的准确性很大程度上取决于检测人员的经验,因此仅适用于评定表面粗糙度要求不高的工件。 5.5.2 光切法 光切法是指应用“光切原理”来测量表面粗糙度的一种检测方法。常用的仪器为光切显微镜(又称为双管显微镜)。该仪器适用于测量用车、铣及刨等加工方法所获得金属零件的平面或外圆表面。光切显微镜主要用于测量轮廓最大高度Rz值。 5.5.3 干涉法 干涉法是指利用光波干涉原理测量表面粗糙度的一种检测方法。利用此方法测量时,被测表面直接参与光路,用同一标准反射镜比较,以光波波长来度量干涉条纹的弯曲程度,从而测得该表面的粗糙度值。常用的仪器为干涉显微镜。干涉显微镜主要用于测量轮廓最大高度Rz值。 5.5.4 针描法 针描法又称为轮廓法,是指利用仪器的触针与被测表面接触,并使触针沿被测表面轻轻滑动来测量表面粗糙度的一种检测方法。常用的仪器是电动轮廓仪。 针描法测量表面粗糙度能够直接读出轮廓算术平均偏差Ra值,且能测量平面、轴、孔和圆弧面等各种形状的表面粗糙度。但由于触针要与被测表面可靠接触,需要适当的测量力,当测量材料较软或表面粗糙度值较小时,被测表面容易产生划痕。 5.6.1 表面粗糙度的比较 判断下列每对配合(或工件)使用性能相同时,哪一个的表面粗糙度值应小些?为什么? (1)φ60H7/f6与φ60H7/h6 (2)φ30h7与φ90h7 (3)φ30H7/e6与φ30H7/r6 (4)φ40g6与φ40G6 1.实训过程 (1)φ60H7/h6的表面粗糙度值应小些,因为此配合为小间隙配合,而φ60H7/f6为大间隙配合,为保证配合的稳定性,小间隙配合的表面粗糙度值应小些。 (2)φ30h7的表面粗糙度值应小些,因为为保证表面粗糙度与尺寸相协调,尺寸小时,表面粗糙度值也要小些。 (3)φ30H7/r6的表面粗糙度值应小些,因为此配合为过盈配合,而φ30H7/e6为间隙配合,为保证配合的稳定性,过盈配合的表面粗糙度值应小些。 (4)φ40g6的表面粗糙度值应小些,因为相同公差等级时,轴的表面粗糙度值应比孔要小些。 2.实训总结 通过对表面粗糙度的比较判断,掌握表面粗糙度的选择。 5.6.2 表面粗糙度的标注 将下列表面粗糙度要求标注在下图上。 (1)用任何方法加工圆柱面φd3,要求Rz最大允许值为3.2μm。 (2)用去除材料方法获得孔φd1,要求Ra上限值为3.2μm。 (3)用不去除材料方法获得表面a,要求Ra最大允许值为3.2μm。 (4)其余用去除材料方法获得表面,要求Ra上限值均为25μm。 * * 表面粗糙度是指加工表面上由较小间距的峰谷组成的微观几何形状误差。表面粗糙度越小,表面越光滑。 如右图所示,零件同一表面存在着叠加在一起的三种误差,即形状误差(宏观几何形状误差)、表面波度误差和表面粗糙度(微观几何形状误差)。三者之间通常可按相邻波峰和波谷之间的距离(波距)加以区分:波距大于10mm的属于形状误差;波距在1~10mm之间的属于表
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