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热工测试技术07流速2
湍流 * 电子警察等 * 对固定光源LS发射的入射光, * * 三种外差检测法基本光路系统:和。 * Kr直接投射,三点在一条直线上。 * 的速度分量vn和差拍信号fD之间的关系在 常用前向散射型,因为微粒的前向散射光强度较大,可以提高信噪比。当受结构限制,实验段只能开单一信号窗口时,采用后向散射型布置方案。 * 上述光学系统,检测量是两光束的差拍信号,没有正负之分。测量系统只能测量流体速度分量vn的大小,而不能同时判断其流动方向,即普通多普勒流速仪的方向模糊性。 这需要采用具有方向判别功能的多普勒测量系统,若利用光混合干涉条纹的移动特性来判断流速方向。 * fs很小且数值恒定, * ,位于明条纹处散射光加强,位于暗条纹处散射光减弱; * 实测中,频移装置的频移元件常采用声光器件(如Bragg盒)、旋转光栅和电光器件等。 * 上述光学系统为一维多普勒测量系统。 可以看成是两个一维参考光束光路的合成, ,这两个速度分量之间的夹角等于通过实验段的两束参考光的交角。 * 激光多普勒测速仪基本组成:激光器、光分束器、光聚焦发射系统、光信号收集与检测系统、频率信号处理系统以及散射微粒等。频率信号处理仪器:频谱分析仪、频率计数器和频率跟踪器。 被测流体中自然存在的微粒大小或其含量不能满足测量的需要,或者测量光路的布置形式受到限制时, * 湍流(tuanliu)(包括流体流动中的小尺度结构) * 钇-钕(yi-nv);ccd电荷耦合元件; 激光器、形成片光的柱面镜、拍摄粒子图像的照相机、计算机及电子控制器(控制激光脉冲与照相机快门同步)等。 用外同步装置分别触发产生光脉冲,,从1μs到0.1s * 在反相流的流场测量时,会出现方向模糊性,需要判断粒子对的位移方向 * 由双脉冲激光器、光路调节装置、激光脉冲触发控制系统、粒子浮选及加入装置、单缸试验机、拍摄装置等构成。 * (波长0.532μm) ,即将PIV测试技术中难度较大的粒子位移方向判断转变为简单的灰度判别。 * ,测量误差分别为0.4%和0.3% * 它是1970年贝尔实验室的W·S·Boyle和G·E·Smith发明的, ,PIV应用范围更广 * * 五、多普勒测速系统的激光器和散射微粒 1.激光器 氦氖激光器和氩离子激光器。 氩离子激光器:输出功率大、波长短;使用条件复杂,价格昂贵,只用于多维流速测量和测量高速气流的后向散射型光路系统。 氦氖激光器:最常用。 2.散射微粒 水或一般流体,其自然存在的杂质可作为散射微粒。 燃烧火焰传播速度和高速风洞风速测量等,需添加散射微粒。 合格散射微粒应该具备: (l)能够很好地跟随流体的运动 微粒的直径、质量和流体的粘度、密度等。 (2)具有高的散射效率 提高散射效率可得到高信噪比的散射光。与直径、微粒颜色、形状等有关。 (3)具有良好的物理化学性质 应无毒、无刺激性,对流动管道无腐蚀或磨蚀,化学性质稳定等。 微粒直径为干涉条纹宽度的1/2或条纹间距的1/4。被测流体为空气等气体、微粒与流体的质量比103~104时,须考虑微粒尺寸对流动跟随性的影响。 直径0.4~0.8μm时,能响应lOkHz湍流运动; 直径1~3μm时,能测量1kHz以下湍流运动。 测量涡流和高速气流时,微粒尺寸尽量小。但微粒直径过小时,需加大激光器的功率;同时会产生布朗运动,降低测速精度。 当被测流体为液体时,因微粒与被测流体之间的密度差较小,故不需过小的微粒。 散射微粒的添加量: 微粒含量过低,散射光强度微弱而减少多普勒信号。 微粒含量过高,大量微粒同时通过干涉条纹,造成多个光信号重叠,信号失真;且测定窗口上的微粒也会增多,容易污染窗口、产生噪声。 微粒含量需求: 测量水流时,添加量要求不高,甚至不添加; 双光束光路对微粒含量的要求低,参考光束要求较高含量; 用频率跟踪器处理多普勒信号时,需要一定微粒含量,而用频谱分析仪和计数型处理器时,需要含量较低。 第四节 粒子图像测速技术 粒子图像测速技术(Particle Image Velocimetry, PIV):利用示踪粒子的图像来测量流体速度。 PIV产生背景: 1.局部点的信息和平均的数据无法准确反映流场的特性:如全场测试燃烧火焰、观测高湍流中不断改变的空间结构等。 2.特殊的稳定流场:如狭窄流场,采用热线风速探头会破坏流场状态,而激光多普勒系统的测量光束难以相交成理想的测量区域。 PIV优点:能够测量整体流场的瞬时速度信息,且对流场无扰动。 玻璃发动机的PIV安装 粒子图像测速技术 流场可视化 一、粒子图像测速(PIV)原理 1.PIV基本原理
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