培训1304018-波前摄像分析光学测试.pptVIP

一、波前分析仪概念 成像光学系统是利用光学元件将物体发出的 光波会聚到探测器上,得到物体的像。 在光波到达光学系统之前,会受到传播媒介如大气等因素的干扰; 在光学系统内传播时,由于光学仪器本身的装调误差,光学元件在热或力的影响下变形等因素,光波也会产生畸变。 这些因素综合作用的结果就是成像模糊不清, 分辨率降低。 二、球面、非球面测量（光学分析仪） 三、产品信息 Phaseview的核心技术是通过考虑各种因素求解曲率，是一种直接而且可靠地计算方法。PhaseView是第一个运用T.I.E. (Transport of Intensity Equation)原理，结合软件算法与硬件运行，进行可靠的光束质量分析。 ● 光束形貌参数：三维能量分布，光斑位置，发散角，腰斑大小， ● 光束传播参数：波前能量分布，波前相位分布，波前曲率半径，腰斑大小和位置，瑞利长度等等 ● M2因子 其产品在眼科学、精密光学仪器和激光描述上都有成功应用。 一台高分辨率波前分析仪=光束质量分析仪 +波前测量仪+干涉测量仪 特点： ???一台仪器测量所有光束参数 ???实时测量光强分布波前，分辨率高 ???单点测量M2 ???无需移动 ???瞬时测量光束整体 ???涵盖整个波长范围：紫外-可见光-近红外-远红外 ???性价比高 原理：在CCD内部，激光光束被分成两束并分别先后到达高灵敏度 波前CCD探测器阵面，并先后得到两个光束图像，通过分析比较这 两个图像的波前能量强度分布和波前相位分布可以分析测量出该光 束的所有参数。 哈特曼传感器与数字波前分析仪测量结果的对比：? 和Shack-Hartmann波前分析仪测量波前的比较： 传统光束质量分析仪由Shack-Hartmann波前探测 器取样测量波前能量，测量分辨率低，测量M2需 要复杂的导轨，测量速度慢等等. ??? 相较于传统的Shack-Hartmann波前探测器，Bea mWave具有高速、高分辨率、无需导轨、测量更 全面等优势。 DWC高精度波前分析仪是一款 可对激光光源或由于光学元器件 所引起的波前畸变的光强分布以 及波前面型等进行动态分析的智 能化波前传感器 。 波前分析仪 主要技术参数： 6.45 μm 4.65 μm 6.45 μm 平面波前分辨率 Flexible 1500λ 1500λ 波前动态范围 λ/100 rms λ/100 rms λ/100 rms 波前精度 (λ) Flexible λ/200 rms λ/200 rms 波前敏感度 350 – 1100 nm 400 – 700 nm 400 – 700 nm 波长 6.45 x 6.45 μm 4.65 x 4.65 μm 6.45 x 6.45 μm 像素尺寸 1392 x 1040 1392 x 1040 1392 x 1024 相机分辨率 6.4 mm x 4.8 mm 6.4 mm x 4.8 mm 3.2 mm x 3.2 mm 传感器尺寸 1392 x 1040 1392 x 1040 500 x 500 波前图数据点 DWC 1500 DWC 1000 DWC 500 型号 应用： 实时显示 Zernike分析图 可测量离轴、离焦、像散、慧差像差、高阶 像差、调制传递函数，点扩散函数等参数 从参考或最有近似中获取残差波前 从理论数据中获取残差波前 波前及光强仿真 可测量：离轴、离焦、像散、慧差像差、高阶像差、调制 传递函数，点扩散函数等参数 波前及光强仿形 波前摄像机 1200λ 1200λ 焦点范围 6 μrad 6 μrad 波前斜率准确度 15° 15° 波前斜率范围 λ/ 50 rms @ 633nm λ/ 50 rms @ 633nm 波前敏感度 λ/ 15 rms @ 633nm λ/ 15 rms @ 633nm 波前精度 低阶和高阶像差 波前斜率，离焦，棱镜 像差范围 位置，尺寸，光强，像差 位置，尺寸，光强，像差 测量参数 5.20 μm 1 μm 平面波前分辨率 350 x 350 350 x 350 波前图数据点 350 – 1100 nm 400 – 900 nm 波长 5.20 μm 5.20 μm 像素尺寸 1280 x 1024 1280 x 1024 相机分辨率 DWC-15 DWC-10 型号  主要技术参数： 特点： ?光相位及光强同步测量 ?高分辨率波前分析图 ?离轴，像散，离焦及高阶像差的实时监测 ?即插即用，实时读取? ?小巧轻便，方便测量 ?即插即用型USB波前传感