半导体照明中结温的电学法测试与优化.docVIP

半导体照明中结温的电学法测试与优化 　　摘要：基于电学法测试半导体照明的结温，实现了结温测试的电路，采用脉冲调制对LED的瞬态结温值进行测试。实验发现，结温与正向电压的标定系数K值是影响结温测试精度的主要因素，分析了产生误差的主要原因，并对该系数进行修正。测试结果表明：结温的实测值与参考值有良好的一致性，存在误差的原因是采样的延时时间较长，可提高数据采样率和剔除不良数据进行重复测试，以提高结温测试精度。 　　关键词：半导体照明；LED结温；标定；多项式拟合 　　中图分类号：TN312.8文献标识码：A文章编号：1009-3044(2011)20-5000-03 　　Measurement with Electrical Method and Optimization for the Junction Temperature in Semiconductor Lighting 　　YUAN You-xiang, BIE Shao-bing, TANG Wei 　　(HuBei Jianghan Petroleum Instrument Meter Co., Ltd, Wuhan 430205, China) 　　Abstract: Based on the electrical measurement method on the junction temperature in semiconductor lighting, in this paper, the circuit of junction temperature measurement is designed, the technology of pulse width modulation (PWM) is used to obtain the dynamic junction temperature value. Experiment find that the factor K, the coefficient of junction temperature versus the forward voltage drop has the most important influence in the precision of the estimating junction temperature. Polynomial fit and linear fit are made to modify this coefficient. The results show that a good agreement between the measurement values and the reference values for junction temperature, the error is produced by the large sampling intervals. Improved measurement precision is carried out by enhancing the density of sampled data, relinquishing the bad data, and then by means of duplicated testing. 　　Key words: semiconductor lighting; junction temperature of LED; calibration; polynomial fit 　　目前半导体照明作为一种新型固态光源，具有节能、环保、寿命长、色彩丰富等显著优点。在半导体照明中，结温是指功率发光二极管（LED）的PN结温度，对于1mm*1mm*0.1mm的芯片尺寸，其芯片的温度被定义为结温。随着LED功率不断增加，有超过70%的电功率被转换为热能，功率型LED的性能受结温的影响极大，直接影响其发光效率、显色指数、色温、主波长、色坐标及使用寿命[1]。同时，由于高结温，封装材料会很快变性导致器件失效。由于LED模块体积小、内部结构复杂，难以直接而准确地测量其内部温度分布[2]。在大功率LED发展中，精确地测试LED结温具有很重要的理论和实际意义。 　　国内外有多种方法对半导体照明的结温的进行检测，最直接的方法是将微型温度传感器植入LED封装模块中，在LED芯片和支架之间嵌入一个热敏电阻，通过热敏电阻和温度之间的关系式推算结温，这种测试能实时稳定地监测LED结温，但在实际应用中增加了封装级的成本[3]。另外，拉曼光谱法测试结温是基于拉曼散射谱中的谱线stokes和antistokes在不同温度下的频移来计算结温，这种方法可以得到芯片内部不同微区域的温度分布；