利用资料探勘技术分析彩色滤光片瑕疵之自动分类模型及-NPUCSIE.PDFVIP

第 十二屆離島資訊技術與應用研討會論文集 利用資料探勘技術分析彩色濾光片瑕疵之自動分類模型及其應用 * 黃旭儀 高啟德 賀嘉生 中原大學資訊工程學系 中原大學電子工程學系 中原大學資訊工程學系 v168y2k@ chitekao@ jsheh@.tw 摘要 良率的優勢就會是贏家，相對的客戶對於品質的要 本研究以影像處理與資料探勘技術進行彩色 求也愈嚴苛，傳統人工檢查作業的方式已不敷使 濾光片瑕疵之自動分類。在影像處理階段分別處理 用，因此製造商導入全面自動化檢測方式亦是勢在 彩色濾光片的穿透光影像與反射光影像，找出影像 必行。而設備商在自動化檢測系統亦積極的研發能 上有瑕疵的區域，提取其影像特徵屬性並組成特徵 夠符合客戶需求的產品，其中電腦視覺技術更是被 向量。在自動分類階段，基於資料探勘的方法，從 應用於此，結合了光學機構元件與影像辨識技術， 訓練樣本中找出 16種瑕疵類型的特徵向量，再與 成功的將自動化檢測系統導入製造工業，有效提昇 測試樣本的特徵向量計算相似度，並依此找出測試 不良品的檢出，防止無效產品後續生產的成本。 樣本的分類結果。實驗結果分析使用準確率 (Precision)與召回率(Recall )來進行驗證。 1.2研究背景與動機 關鍵詞：彩色濾光片、瑕疵、影像特徵、相似度 本論文以CF廠進行研究，CF 為 TFT LCD關 鍵零組件之一，隨著新製程技術的演進，CF在 TFT Abstract LCD 製造環結中仍然是扮演著重要的角色。目前 In this research, we developed a method of 在 CF 廠前段製程已採用了高度自動化的生產模 automatic defect classification of color filter by 式，但在後段檢查站目前仍需仰賴大量人力來進行 image processing and data mining techniques. In the 人工檢查作業。人工作業方式不但耗費人力也有著 stage of image processing, we processed the 不確定的因素存在，因此推動全面自動化檢測方式 transparent-light images and reflective-light images, 亦是重要的目標。雖然目前已有許多的研究機構針 detecting the defect areas, extracting the image 對此部分進行了研究，但仍舊是著重於在如何找出 features, and then formed a feature vector of the defect. In the stage of automatic classification, based 瑕疵目標位置的方法，對於瑕疵分類的研究就相對 on data mining techniques, we discovered the feature 較少 。因此本研究希望能夠設計出一套能夠識別 vectors of the 16 defect classes from training images, CF瑕疵與自動分類的檢測系統，並能夠整合在電 then we calculated the similarity of the feature 腦整合製造 (Computer Integrated Manufac