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数字电子技术实验指导书 目 录 实验一 TTL 集成逻辑门的参数测试2 实验二 CMOS 集成逻辑门的参数测试7 实验三 TTL 集电极开路门与三态输出门的应用 11 实验四 集成逻辑电路的连接和驱动 14 实验五 加法器 17 实验六 译码器及其应用20 实验七 组合逻辑电路的设计与测试25 实验八 数据选择器27 实验九 触发器 30 实验十 移位寄存器及其应用 35 实验十一 计数器41 实验十二 集成定时器45 实验十三 脉冲分配器及其应用48 实验十四 单稳态触发器与施密特触发器 51 实验十五 使用门电路产生脉冲信号—— 自激多谐振荡器 54 实验十六 数字频率计 57 实验十七 D/A、A/D 转换器 62 实验十八 综合性实验——智力竞赛抢答装置 66 实验十九 电子秒表 69 实验二十 综合性实验——3 位半直流数字电压表74 1 数字电子技术实验指导书 实验一 TTL 集成逻辑门的参数测试 一．实验目的 掌握 TTL 集成与非门的主要参数、特性的意义及测试方法。 二．实验原理 TTL 集成与非门是数字电路中广泛使用的一种逻辑门，本实验采用 4 输入双与非门 74LS20， 在一片集成块内含有两个互相独立的与非门，每个与非门有四个输入端。74LS20 内部逻辑图及外 部逻辑符号和引脚排列如图 1— 1 （a ）、（b）、（c ）所示。 图 1— 1 1．与非门的逻辑功能 与非门的逻辑功能是：当输入端有一个或一个以上的低电平时，输出端为高电平；只有输入端 全部为高电平时，输出端才是低电平。（即有“0”得“1”，全“1”得“0” 。）对与非门进行测试时，门的输 入端接逻辑开关，开关向上为逻辑“1”，向下为逻辑“0” 。门的输出端接电平指示器，发光管亮为逻辑 “1”，不亮为逻辑“0”。基本测试方法是按真值表逐项测试，但有时按真值表逐项进行测试似嫌多余， 对于有四个输入端的与非门，它有十六个最小项，实际上只要按表 1— 1 所示的五项进行测试，便可 以判断此门的逻辑功能是否正常。 表 1— 1 输入 输出 An Bn Cn Dn Y 1 1 1 1 0 1 1 1 1 0 1 1 1 1 0 1 1 1 1 0 2 ．TTL 与非门的主要参数： （1）低电平输出电源电流 ICDL 与高电平输出电源电流 ICDH 2 数字电子技术实验指导书 图 1—2 与非门在不同的工作状态，电源提供的电流是不同的。ICD