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《电子技术基础》 实验指导书 电子技术课组编 信息与通信工程学院 实验三 基本门电路逻辑功能的测试 一.实验类型——验证性+设计 ?二.实验目的 1.熟悉主要门电路的逻辑功能； 2.掌握基本门电路逻辑功能的测试方法； 3.会用小规模集成电路设计组合逻辑电路。 三.实验原理 1.集成电路芯片介绍 数字电路实验中所用到的集成芯片多为双列直插式，其引脚排列规则如图1-1。其识别方法是：正对集成电路型号或看标记（左边的缺口或小圆点标记），从左下角开始按逆时针方向以1，2，3…依次排列到最后一脚。在标准形TTL集成电路中，电源端Vcc一般排在左上端，接地端（GND）一般排在右下端，如74LS00。若集成芯片引脚上的功能标号为NC，则表示该引脚为空脚，与内部电路不连接。本实验采用的芯片是74LS00二输入四与非门、74LS20四输入二与非门、74LS02二输入四或非门、74LS04六非门，逻辑图及外引线排列图见图1-1。  ? 图1-1 逻辑图及外引线排列 ? 2.逻辑表达式: ??????? 非门???????????? ????????????????????1-1 ??????? 2输入端与非门??? ?????????????????1-2 ??????? 4输入端与非门???? ??????? ??1-3 ???????