决定加速预烧试验的最佳时间和温度条件-mipaper.pdf

品質學報 Vol. 16, No. 4 (2009) 281 決定加速預燒試驗的最佳時間和溫度條件 林揚承 李佩熹 童超塵* 國立雲林科技大學工業工程與管理研究所 (97/05 收件；97/06 修改；98/03 接受) 摘 要 預燒試驗已經廣泛的運用在剔除初期失效率高的電子產品，以避免不良品落入顧客手中。提高 溫度能縮短預燒的時間，通常此方法稱之為加速預燒試驗。當預燒的應力水準不同時，預燒的時間 也會隨之改變，Arrhenius-weibull 分配能用來表示在加速水準之下具有 weibull 特徵的電子產品壽 命，本研究以 Arrhenius-weibull 分配來建構成本模式和平均殘餘壽命，並運用到加速預燒的決策模 式中，再以基因演算法求解最佳加速預燒時間和溫度水準。最後選用一個 TFT- 液晶顯示器模組作為 求解的案例說明，敏感度分析說明本研究的模式參數設定對於求解最佳的預燒條件的影響 關鍵詞：加速預燒測試、Arrhenius-weibull 分配、平均殘餘壽命、基因演算法、TFT-液晶顯示器模組 (1989) 。雖然以較長的預燒時間可以增加產品的 1. 前言 平均殘餘壽命，不過此方法卻容易造成成本方面 預燒測試 (burn-in test) 可將初期失效率較 的負擔。而近二十年來的研究則是以最小化預燒 高的產品先行剔除，以提升產品的壽命。Nelson 成本來決定預燒時間，Kim and Kuo (1998) 建構 (1990) 定義預燒測試為在常溫或高應力的條件 成本模式求解最佳的預燒時間。而 Chou and 下，讓產品執行適當的運作時間，產品的缺陷會 Tang (1992) 則是將保固成本納入和預燒成本模 在預燒過程中出現，並剔除不良品，因而，在預 式 中 ， Plesser and Field (1977) 、Jensen and 燒後產品的平均殘餘壽命 (Mean Residual Life, Peterson (1982) 、Yun et al. (2002) 也都有針對保 MRL) 會高於原始壽命時間，此預燒作業有助於 固維修的成本加以討論，讓成本的計算更加完 提升產品品質。然而，大多數的電子產品具有高 整。然而，部分研究重視預燒成本的最佳化，但 可靠度，必須花費較長的預燒時間來剔除初期失 卻忽略殘餘壽命的重要性，若追求著最小化成本 效率高的產品。Nelson (1990) 曾建議將加速測 而縮短預燒時間，則無法完全剔除不良品，產品 試 (accelerated testing) 的方法應用到預燒作 的平均殘餘壽命亦無法提升，容易造成產品品質 業，提高測試的環境應力以縮短預燒測試時 不良。因此，必須要同時考慮到平均殘餘壽命和 間，Kim and Kuo (1998) 和 Wu et al. (2007) 曾 預燒成本，才能更客觀的決定最佳預燒條件。 談到利用比正常環境更嚴苛之應力條件來消除 高溫應力常被用來加快電子產品的失效，許 早期失效的產品，此做法稱之為加速預燒試驗 多研究就曾應用高溫試驗來收集產品壽命資料 (accelerated burn-in test) 。 和進行預燒作業 (Koo and Kim, 2005; Kim et al. 早期的研究大都是應用最大化平均殘餘壽