2010年微波技术第七章微波测量.pptVIP

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2010年微波技术第七章微波测量.ppt

§7.8 品质因数的测量 品质因数Q是表征微波谐振系统性能的一个重要参量,除了几何形状规则而且简单的谐振腔值可以由公式计算得到外一般工程中的Q值都是由测量得到,谐振腔Q值的测量方法有很多,例如:功率传输法、功率反射法、阻抗法等,通常根据被测谐振腔Q值的大小、与外界电路耦合的程度及要求的测量精度来选定不同的测量方法。 功率传输法 功率传输法是根据谐振腔的功率传输特性来确定Q值的。谐振腔可分为通过式和吸收式。 通过式谐振腔Q值的测量 匹配信号源 待测腔 匹配功率计 方法:逐渐改变匹配信号源的频率f(输出功率P1保持不变),通过谐振腔传输到匹配负载(功率计)的功率P2随之改变 * * * * * * * * * * * * * * 脉冲功率和平均功率 其中: 、 分别为脉冲功率和平均功率 0 三 、大功率测量 1 . 直接法 P 入水口 出水口 热转化式微波功率计 流速,d水的密度,Cw水的比热, 为温差。 2 .比较法 R1 R2 R4 R3 + - 为了避免直接测量流速及温差,采用比较法,主要是加入了桥路 水负载 加热器 调压变压器 R1 R3 R2 R4 220V/50Hz §7.5 衰减测量 一 、衰减的定义和基本测量方法 1、衰减的定义:是将微波元件接在匹配信号源与匹配负载之间,插入元件的输入功率与输出功率之比的分贝数。 ? 注意:元件的衰减是唯一的,与外部环境无关。 ?2 、衰减的基本测量方法 衰减的基本测量方法分为4大类: A 替代法:用标准衰减器的衰减量替代被测网络的衰减量来实现衰减测量 B 阻抗法:根据传输线中的反射或驻波系数与被测衰减量的关系实现衰减测量(功率反射法) C 功率比法 D 桥路法 二、功率比法 原理:直接测量P1/P2来确定衰减量的一种方法 装置:采用一个与传输线相匹配的功率计作为负载和一个匹配的信号源 微波 信号源 待测元件 指示器 功率计 匹配负载 匹配信号源 方法: 1、对负载系统进行调配 取下待测元件,使负载的驻波系数小于1.02, 2、 对信号源进行调配 1)将信号电源断开,接入测量线左端,在右端接另一个相同频率的信号源,进行调配; 2)在测量线终端接短路活塞,形成全反射,移动活塞,反射波的相位就在改变,如果信号源系统不匹配,则入射波功率则发生变化,波腹点变化,跟踪 3、测量P1和P2 4、根据衰减的定义计算衰减量。 三 、替代法 替代法是用已校准的标准衰减器的衰减量来代替被测元件的衰减量进行衰减测量的一种方法。 主要原理: 1)不接待测元件 适当调节可调精密衰减器为A1,使指示器有一定指示; 微波 信号源 匹配指示装置 精密衰减器 ? 2)接入待测元件? 待测元件本身的衰减使指示器读数减小,调节精密衰减器使指示器恢复原值,此时的衰减量为A2,被测元件的衰减量为A=A1-A2 根据所用标准衰减器的工作频率不同,可分为高频替代法、中频替代法和低频替代法。 微波 信号源 匹配指示装置 待测元件 高频替代法 测量前应对系统调匹配,以构成信号源和匹配负载系统 微波 信号源 指示器 功率计 待测元件 四、桥路法 待测 元件 信号源 H 3 2 3 2 H E E 双T1 双T2 桥路法测量衰减的测试系统 五、功率反射法 设网络本身的反射系数为零,即S11=S22=0 衰 减 元 件 ZL 元件输入端的反射系数和驻波系数 元件输出端的反射系数和驻波系数 1)、负载短路时 微波 信号源 待测元件 指示器 D1 D2 2)、测量方法 3)、特点 不需调配,测量方便 证明: Pr A Pi P0 P0 §7.6相移的测量 一、 定义 定义:微波元件的相移量指该元件插入匹配系 统中所引起的相位变化 相移网络 二 、反射波法 1) 接短路板 2) 接入待测 元件 微波 信号源 待测元件 指示器 D1 D2 d z1 z2 (2)-(1)得: 还可以测出衰减: 不接待测元件 接待测元件 电压最小点处反射系数的相位: 三、传输波法 微波 信号源 待测元件 指示器 D1 D2 待测元件 D l1 l2 在D处入射波和反射波分别为 D为波节点时: (D1为元件插入前的波节点位置) (D2为元件插入后的波节点位置) 三、电桥比较法 待测 元件 信号源 H 3 2 3 2 E H E 魔

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