sf_6中绝缘子表面电荷积聚及其对直流gil闪络特性的影响_张博雅.pdfVIP

第 41 卷 第 5 期：1481-1487 高电压技术 Vol.41, No.5: 1481-1487 2015 年 5 月 31 日 High Voltage Engineering May 31, 2015 DOI: 10.13336/j.1003-6520.hve.2015.05.009 SF6 中绝缘子表面电荷积聚及其对直流GIL 闪络特性的影响 1,2 1,2 1,2 3 张博雅 ，王 强 ，张贵新 ，李金忠 1. 100084 （ 清华大学电机工程与应用电子技术系，北京 ； 2. 清华大学电力系统及发电设备安全控制和仿真国家重点试验室，北京100084； 3. 中国电力科学研究院，北京100192 ） 摘 要：随着中国特高压直流输电工程建设进程的逐渐加快，直流气体绝缘输电线路(GIL) 的需求日益迫切，对 GIL 在特高压直流下一些关键问题的研究显得至关重要。因此针对直流电压下 GIL 中盆式绝缘子表面电荷积聚问 题展开研究，建立了一套基于静电探头法的表面电荷测量系统，研究了在 SF6 气体环境中，不同电压幅值和电压 极性反转情况下绝缘子表面电荷的积聚规律。同时，在特高压直流 GIL 试验单元上进行了直流闪络试验，研究了 绝缘子表面电荷积聚对直流闪络特性的影响。研究结果表明：在 0.5 MPa 的 SF6 中，绝缘子表面主要积聚与所加 直流电压极性相反的电荷，这种电荷分布将增大绝缘子表面与中心电极间的局部场强，并将进一步导致绝缘子闪 络；GIL 中盆式绝缘子的直流耐受电压仅为交流耐受电压的64%左右。该研究为 GIL 中盆式绝缘子在直流电压下 闪络电压下降提供了一种可能的解释。 关键词：表面电荷；绝缘子；SF6 ；气体绝缘；GIL ；特高压直流；闪络；静电探头 Surface Charge Accumulation on Insulators in SF and Its Effects on the Flashover 6 Characteristics of HVDC GIL ZHANG Boya1, 2, WANG Qiang1, 2, ZHANG Guixin1, 2, LI Jinzhong3 (1. Department of Electrical Engineering, Tsinghua University, Beijing 100084, China; 2. State Key Laboratory of Control and Simulation of Power System and Generation Equipment, Tsinghua University, Beijing 100084, China; 3. China Electric Power Research Institute, Beijing 100192, China) Abstract ：As the process of UHVDC power transmission projects accelerates in China, the dema