X射线衍射强度1节.pptVIP

以上讨论中用的是峰脚宽度作为峰宽。 实际应用中更多的是峰半高宽或峰积分宽作为峰宽。 于是上式成为 当B为峰半高宽时， k=0.89 当B为峰积分宽度时，k=0.94 这就是著名的谢乐(Scherrer)公式。 为用X射线衍射测定晶粒大小的基本公式。 B－单位为rad k－Scherrer常数 t－晶粒尺寸（nm）； （一）晶粒大小的影响（10） 实际晶体的衍射强度曲线(a)和理想状态下衍射强度曲线(b)的比较 在I＝Imax／2处的强度峰宽度定义为半高宽B(度) （一）晶粒大小的影响（11） 谢乐(Sherrer)公式： ① 晶粒变小，衍射峰宽化。一般当晶粒≤1μm 时，衍射峰就开始宽化。故适合于测定≤0.1μm （100nm）粒径。 它是目前测定纳米材料颗粒大小的主要方法。虽精度不很高，但还无其它更好的方法。 ②对块体大晶粒样 ，也常有镶嵌结构，即大小≤1μm ，取向稍有差别的镶嵌晶块组成。也会引起衍射峰宽化。 ③当晶粒大小一定时，峰宽 B 随θ增大而增大。故也反映了由晶粒大小引起的衍射强度随θ的变化。 B－衍射峰宽， t －晶粒大小。 （一）晶粒大小的影响（12） 3．在晶体二维方向也很小时的衍射强度： 当晶体不仅厚度很薄，在a、b二维方向上也很小时，衍射强度也要发生一些变化。 当晶体转过一很小角度(θB＋Δθ)时，衍射强度依然存在。可推导：使衍射线消失的条件为： 可见：峰宽 。 （Na、Nb为晶面长度） （一）晶粒大小的影响（13） 那么，微晶在三维方向的积分衍射强度是上述三式的乘积： 第一几何因子 因 t×Na× Nb ＝Vc 体积，所以 第一几何因子反映了晶粒大小对衍射强度的影响。 （一）晶粒大小的影响（14） （二）衍射晶粒数目的影响（1） 实际多晶或粉末样品，晶粒数目无穷多，某晶面（hkl）也无穷多，且空间取向随机。 入射线 某反射圆锥的晶面法线分布 反射晶面法线分布环带 hkl反射线 晶面法线 现讨论：这无穷多个（hkl）晶面中，有多少处在布拉格反射的位置上。 方法：取一个半径为r的参考球，将试样包围起来，如图。 对某hkl反射，ON为（hkl）晶面的法线。 （二）衍射晶粒数目的影响（2） 粉末样中，无穷多晶粒中（hkl）面的法线，在球面上有无穷多个交点，且均匀地分布着。 产生衍射：仅与入射线呈(θB＋Δθ)角的那一小部分晶粒。其（hkl）晶面法线与球面相交成宽为 rΔθ 的环带。 反射晶面法线分布环带 入射线 hkl反射线 晶面法线 第二几何因子 设环带面积为ΔS，球表面积为S，则ΔS／S即为参加衍射的晶粒百分数，则： 粉末多晶体衍射强度： 与参加衍射的晶粒数目成正比，且与衍射角有关， 即I∝cosθ， 将此项称为第二几何因子。 （二）衍射晶粒数目的影响（3） （三）衍射线位置对强度测量的影响（1） 衍射线位置对强度测量的影响：即为单位弧长的衍射强度。 德拜法中衍射圆锥和底片的交线 R为相机半径 在德拜-谢乐法中，粉末样的衍射圆锥面与底片相交构成感光弧对，衍射强度是均布在圆锥面上。 圆锥面越大(θ越大) ， 单位弧长上能量密度 就越小， 2θ＝90o，能量密度最小。 （三）衍射线位置对强度测量的影响（2） 相对衍射强度比较：并不是整个衍射圆锥的能量，而是几个圆环上的单位弧长的能量（积分强度值）。 应考虑：圆弧所处位置，对单位弧长上的强度差别。 第三几何因子 将因衍射线所处位置不同对衍射强度影响称为第三几何因子。 衍射环长度：2πRsin2θB，R为相机半径。 衍射环单位弧长上的积分强度与 1/sin2θB 成正比，即: 洛仑兹因子 1、晶粒大小：对衍射强度影响－－第一几何因子； 2、参与衍射晶粒数目：对衍射强度影响－－第二几何因子； 3、衍射线位置：对衍射强度影响－－第三几何因子 上述三种影响均与布拉格角有关，归并后统称洛仑兹因子。 第一几何因子 第二几何因子 第三几何因子 洛仑兹因子 洛仑兹极化因子 －（角因子） 将洛仑兹因子与极化因子（1＋cos22θ）/2再组合，得 得洛仑兹-极化因子（角因子）： 角因子为θ的函数。 它反映了衍射强度随布拉格角θ的变化。 角因子随θ角的变化曲线呈马鞍形。 θ＝45°时，角因子最小，衍射强度显著减弱。 角因子随θ角的变化曲线 强度显著减弱 在实际工作中，很少测定2θ角大于100°衍射线。 故在X射线衍射图上，衍射线强度总体趋势都随2θ角增大而减弱。 三、吸收因子 由于试样本身对X射线的吸收，使衍射强度实测值与计算值不符，为修正这一影响，引入吸收因子A（θ