数字逻辑实验1 ( 1 ).ppt

计算机硬件系列实验1 数字逻辑实验 评分情况 平时成绩30% 预习10% 实验报告10% 实验操作（现场评分）10% 操作考试40% 理论测试30% 实验一 系统认识、基本逻辑门逻辑实验 一、实验目的 熟悉dvcc实验仪、数字万用表的使用；熟悉TTL中、小规模集成电路的外型、管脚和使用方法；熟悉自锁紧导线的使用。 熟悉常用芯片（与非、或非、异或、非门）等芯片的输入与输出之间的逻辑关系 了解芯片的电压传输特性及TTL电路使用注意事项 二、实验所用器件和仪表 DVCC-D3JH实验仪（2010120**） 万用表 74LS00、74LS28、74LS86、74LS04、74HC04、74HCT04、74S64 各1片 74LS28引脚图 三、实验原理 各芯片将实现Y=AB， Y=A等逻辑功能。 芯片命名规则：以SN 74 LS 74 AN为例，分为5部分。 制造公司：“SN”——“德克萨斯”、“MC”——“摩托罗拉”、“DM”——“美国国家半导体”、“HD”——“日立公司”； 工作温度：“74” ——表示芯片的工作温度为“0-70oC”、“54”——“-55-125 oC”； 系列：“LS”——低功耗肖特基系列、“S”——肖特基系列、“空白”——“标准系列”、“H”——“高速系列”、“L”——“低功耗系列” 品种代号——此处74代表双D触发器 封装形式 电源电压VCC=5V±10%； 不使用的引脚常不允许悬空，根据需要接高电平或接低电平；一般与非门接高电平，或门、或非门接低电平； 与或非门不使用的与门，该与门至少有一个输入端应接地； TTL芯片与CMOS芯片相比，其电压传输特性不一致。下面显示了一组在下图所示连接下TTL非门74LS04与CMOS非门74HC04、兼容TTL的高速CMOS非门HCT04的电压传输特性测试数据 三、实验原理 四、实验内容 芯片的插拨，导线的连接。 测试74LS00四组输入和输出之间的逻辑关系,确定芯片功能。 测试74LS28四组输入和输出之间的逻辑关系,确定芯片功能。 测试74LS86四组输入和输出之间的逻辑关系,确定芯片功能。 测试74LS04六组输入和输出之间的逻辑关系,确定芯片功能。 教学机实验序号、实验信号周期、单步运行。（不做） 测试74LS04、74HC04、74HCT04电压传输特性。 测试74S64芯片功能，注意悬空、不用的脚、不用的门的连接。 五、实验提示 将被测器件插入实验上的14芯插座中（注意芯片的引脚数）。 将器件的引脚7与实验台的“地（GND）”连接，将器件的引脚14与实验台的+5V连接。（注意看书后的——附录 常用实验器件引脚图，不是每个芯片的地线和电压线都一样） 用实验台的电平开关输出作为被测器件的输入。拔动开关，则改变器件的输入电平。 将被测器件的输出引脚与实验台上的电平指示灯连接。指示灯亮表示输出电平为1，指示灯灭表示输出电平为0。 六、实验连线及实验结果记录 1.测定74LS00、74LS86一组功能的连线图如下图所示(其它3组类似) 六、实验连线及实验结果记录 2.测定74LS04的连线图如下 六、实验连线及实验结果记录 3.测试结果如下图所示方法记录 六、实验连线及实验结果记录 4.系统认识实验 七、预习要求： 预习“数字电路基本知识”、“DVCC实验系统”、“实验一”；预习报告要求写“实验目的、使用仪器、实验内容” 八、实验总结： 1.总结各芯片功能 2.总结芯片插拔知识； 3.总结连线注意事项； 4.总结芯片命名规则 5.总结悬空脚、不用的门如何连接 附件1 实验所用芯片详细型号 74HC04系列 MC74HC04N(MM74HC04N); HD74HC04P 74LS04系列 HD74LS04P 74HCT04系列 74HCT04N 附件1 实验所用芯片详细型号 74LS86系列 HD74LS86P DM74LS86N SN74LS86AN 附件1 实验所用芯片详细型号 74LS00系列 HD74LS00P 附件1 实验所用芯片详细型号 74**64系列 DM74S64N 74F64 HD74S64P MC74F64N 附件1 实验所用芯片详细型号 74**28系列 SN74LS28N * * DVCC-D3JH 智能逻辑实验仪 电源开关 输入：连线、开关 输出:连线、显示 1 2 3 4 5 6 7 14 13 12 11 10 9 8 VCC 4B 4A 4Y 3B 3A 3Y 1A 1B 1Y 2A 2B 2Y GND 74LS00 74LS04