B 0601 表面粗糙度表面光滑度-.docVIP

表面粗糙度（表面光滑度） 定义和标识 1. 概述 这份日本工业标准详细说明下述各项的定义和标识：算术平均粗糙度、最大高度、十点平均粗糙度、轨迹光规则性的平均间隔、轨迹局部峰的平均间隔和轨迹承受长度比数，以上是工业产品表面粗糙度表示参数。 备注：与该标准相对应的国际标准如下： ISO 468-1982 表面粗糙度—参数、直数值和一般规则，这是用作解释所需要的。 ISO 3274-1957 轨迹法测量表面粗糙度的仪器——连续轨迹转换用的接点（记录针）仪器——接点轨迹法，M系统。 ISO 4287/1-1984 表面粗糙性——术语第1部分：表面及其参数 ISO 4287/2-1984 表面粗糙性——术语第2部分：表面粗糙性参数的测量 ISO 4288-1985 利用记录针仪器进行表面粗糙性测量的规则和程序 2. 定义和符号 用于该标准的主要术语如下面所作的定义。每项术语之后的括号内为其符号。 （1）算术平均粗糙度的每一个算术平均值（Ra） 十点平均粗糙度（Rz）、轨迹不规则性的平均间隔（Sm）、最大高度（Ry）、表面粗糙度轨迹局部峰的平均间隔（S）和轨迹承受长度比数（tp），上述是表示在一个目标表面随机取样每一部分的表面粗糙度的几种参数（以后称为“目标表面”）。 备注1. 一般对于目标表面来说，某一单独位置的表面粗糙度是不一致的，呈现为很大的离散性。因此，为估计目标表面的表面粗糙度，必须确定测量的位置和总数，这样总数的平均值就可以被有效地确定。 2. 对于物体的测量，目标表面一点的评估值可以代表整个表面的表面粗糙度。 （2）轨迹曲线 当一个表面被与其相垂直的平面截取时，这个表面被截取端就呈现出等高线（轮廓线）。 备注：在这种截取的情况下，如果该表面具有一般概念上的方向性，切割应该垂直于该方向。 （3）粗糙度曲线 一条曲线被切割成任意长度的表面波动性元素，而不是如前面所述的通过相位补偿类型高通泸滤器方式的轨迹曲线波长。 （4）粗糙度曲线的截止值（λc） 相对应于频率的波长使得相位补偿型高通滤波器的增益为50%（以后称为截止值）。 （5）粗糙度曲线的参考长度（l） 由粗糙度曲线截止值的长度进行抽样所构成的长度部分（以后称为“参考长度”）。 （6）粗糙度曲线的评估长度（ln） 用于评估表面粗糙度的长度，它包括一个以上的参考长度（以后称为“评估长度”）。评估长度的标准值应是参考长度的5倍。 （7）滤波后的纹波 利用相位补偿类型低通泸波器从轨迹曲线截取短于给定的一个波长长度的表面粗糙度的曲线分量[见图1（a）]。 （8）粗糙度曲线的平均线（m） 在取样部分将滤波后的纹波从轨迹曲线转换成直线（此后称为“平均线”[见图1（a）]）。 （9）轨迹峰 由粗糙度曲线和平均线围绕的向外指向的部分面积，是粗糙度曲和平均线的二个交接点之间的部分[见图1（b）]。 备注：从平均线向外指向的粗糙度曲线，在参考长度的起点和终点之间的部分应该被认为是轨迹峰。 （10）轨迹谷 由粗糙度曲线和平均线围绕的向内指向的面积部分，是粗糙度曲线和平均线的二个交接点之间的部分[见图1（b）]。 备注：对于平均线来说，向内指向的粗糙度曲线，在参考长度的起点和终点之间的部分被认为是谷。 （11）轨迹峰顶 粗糙度曲线轨迹峰最高幅度的一个点[见图1（b）]。 （12）轨迹谷底 粗糙度曲线轨迹谷最低幅度的一个点[见图1（b）]。 （13）轨迹峰顶线 在从粗糙度曲线取样的参考长度上，该线平行于平均线，并且通过轨迹线最高峰顶[见图1（b）]。 （14）轨迹谷底线 在从粗糙度曲线取样的参考长度上，该线平行于平均线，并且通过轨迹线最低谷点[见图1（b）]。 c）]。 （17）局部轨迹谷 在二处相邻粗糙度曲线最大值之间的部分[见图1（c）]。 （18）局部轨迹峰顶 局部轨迹峰的是大幅度点[见图1（c）]。 （19）局部轨迹谷底 局部轨迹谷的最低幅度点[见图1（c）]。 图1 下述术语的图解：轨迹曲线、粗糙度曲线、平均线、参考长度、轨迹峰、轨迹谷、局部轨迹峰和局部轨迹谷 3. 算术平均粗糙度（Ra）的定义和标识 3.1 Ra的定义 3.1.1 Ra的确定 Ra的数值由下列公式计算出，以微米（μm）为单位进行计算，取样的长度在平均线的方向上按参考长度的粗糙度曲线，取X轴为平均线的方向，Y轴为该取样部分的纵向幅度。粗糙度曲线表示式为 Ra=1/ι∫ι0|f(x)|dx 式中：ι：参考长度 图2 Ra的确定 3.1.2 截止值 当求取Ra时，截止值通常取下列6组； 0.08 0.2