电子能谱学第12讲电子能量损失谱(EELS)精品.ppt

图7—6是解理面Si(111)2×1吸附氧时的低能电子损失谱。 当氧的覆盖度θ＜0.2时，在离弹性峰56毫电子伏的地方由于激发声子而出现损失峰，这和图7—3的结果是一致的。但在90毫电子伏和125毫电子伏的地方出现另外两个损失峰，这两个损失峰属于氧的振动模。 当θ＝0.6时，表面声子激发几乎消失，吸附氧的振动模移到94meV和130meV，且在175meV的地方能看到一个小峰。 图是CO和NO吸附在Ni(111)时得到的EELS谱，以及由此得出的CO和NO分子在Ni(311)面上的具体吸附位置。 两个损失谱峰分别属于CO分子本身碳原子—氧原子之间和CO分子—金属表面之间的拉伸振动。 表明CO分子只能直立地蹲在两度对称的桥式位置上（C2v对称)。而CO分子虽然也蹲在桥位上，但它相对表面取了一个倾斜方向。 低能电子能量损失谱的实验装置 低能电子能量损失谱的特点是： 1)初级电子能量很低，只有3一l0电子伏。 2)损失的能量很小(＜500毫电子伏)，谱线的半高宽约十几meV。要求能量分析器的分辨率为小于10meV。 3)电子能量损失谱对角度很灵敏，要求角分辨能力小于1.5度。 这些特点要求仪器有一个能量很低，单色性很好的初级电子束，并有一个能量分辨能力、角分辨率和灵敏度都很高的检测系统。 因此对阴极、电子光学系统、能量分析器等的设计工作来说有很多特殊问题要考虑。 低能电子能量损失谱的应用 EELS谱可做包括氢在内的指纹鉴定，也可做表面结构分析。 在指纹鉴定时只要参照被分析原子的红外吸收光谱，将电子能量损失谱跟红外吸收谱进行比较就能做出鉴定。 关于结构分析，它所给出的信息是关于微区的，局域的，这与LEED不同，LEED所处理的问题是长程有序表面的结构。 对样品的破坏作用小，适合研究气体在固体表面的吸附。 而且对吸附有很高的灵敏度，可以对＜0.1％单原子层的吸附做常规分析，这些分析包括化学物品在表面的吸附及吸附层在化学反应过程中所产生的中间物的鉴定。 它的应用包括研究固体上的催化反应，金属表面的腐蚀等。 EELS应用 EELS还可研究以下问题： 1)吸附分子的电子跃迁； 2)通过对表面态的研究来研究薄膜镀层的光学性质、界面状态和键合情况； 3)通过对吸附物质振动的研究可以了解吸附分子的结构对称性、键长度和有序问题以及表面化合物的鉴别； 4)通过表面声子来研究表面键合和弛豫； 5)通过对金属和半导体的光学性质的研究，了解空间电荷区中的载流子浓度分布及弛豫过程等。 当覆盖度小于1L或等于2L时只出现桥位吸附，当覆盖度为其他值时则有部分顶位吸附出现 有一半的CO分子必须定在Pt(111)的顶位上，另一半为桥位吸附 只有桥位吸附 用LEELS观察分析双原子分子在金属表面的分解反应。 上图是W(100)在300K时暴露在CO气氛下得到的CO吸附的低能电子能量损失谱，它以CO的吸附量为参数，并给出不同吸附量时的功函数改变量。事先，通过在钨表面分解C2H2，并将它暴露于含氧气氛中，以求得碳和氧的谱线分别为550cm－1和630cm－1，并且已知2080cm－1 CO分子吸附在W(100)上时的谱线。 从图可见，当CO的吸附量小于0.7L时只有碳和氧的吸附，直至吸附量大于1L时才见到底属于CO分子的谱线，这就意味着CO吸附初期在W(100)表面发生分解反应 甲醇分解研究 甲醇在镍表面上发生分解后的三种中间产物。 下图左上部是150K时甲醇吸附于Ni(111)的低能电子能量损失谱，可以看到属于OH、CH3和CO的谱线。 升温至180K后，属于OH的谱线消失了，但CH3和CO仍旧存在。这里的CO可能是来自升温过程中的污染，而不是由甲醇分解产生的。因此，这时镍上的真正吸附物是CH3O。 当温度升高至300K时，CH3O进一步分解，出现了O的谱线。因为CO不会在300K下分解，所以，这里的O只可能是从CH3O基团分解产生的。 Ti的氧化过程 暴露0.2 LO2后，价电子损失谱减弱或消失，出现5.0eV损失峰，32.8eV芯级电子激发损失峰消失，此时TiO已形成。 暴露0.6 L O2后，5.0eV损失峰消失，产生1.6eV的小峰，并开始形成7.0eV的小肩和23.6eV损失峰的迹象，表明形成Ti2O3的同时TiO2也开始形成。 暴露2.8 L O2后，1.6，7.0和23.6eV损失峰明显增强，13.0和10.5eV损失峰分开，进一步表明同时形成了Ti2O3 和TiO2。随暴露量增加，各损失峰除相对强度发生变化外，峰位和峰形基本不变，表明暴露2.8 L O2后基本完成Ti膜表面化学结构变化 图1.2 不同氧化阶段铀表面Ti膜的EELS Loss energy, /eV 0 L 0.2 L 0.6 L 2.8 L 10.4 L 50L a