模拟电子技术半导体器件汇总.ppt

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模拟电子技术半导体器件汇总

§ 1.1 半导体基础 1.1 .1 本征半导体 本征半导体的导电机理 1.1.3 PN结及其特性 理想PN结的单向导电性 实际PN结伏安特性 PN结 伏安特性温度影响,曲线变化趋势 PN结 的雪崩击穿和齐纳击穿。。。 1.2 半导体二极管 1.2.3 主要参数 1.2.6 主要应用 实际二极管的优先导通问题P16 1.2.7 稳压二极管 稳压二极管的参数(图解 ) 1.3 双极型晶体三极管BJT 1.3.2 电流分配和放大原理 1.3.4 主要参数 1.4 场效应管 FET 场效应管 分类 1.2.6 结型??/ 1.4 绝缘栅型场效应管 1.4 . 2 工作原理-1 1.4 . 2 工作原理-2 1.4 . 2 工作原理-3 1.4 . 2 工作原理-4 1.4.3 场效应管特性曲线 1.4.6 输出特性(漏极特性) 1.4.3 直流主要参数 1.4.3 交流主要参数 场效应管思考题 第1章 作业 特点:(1)场效应管只有一种极性的载流子(电子或者空穴)参与导电,所以场效应管有时又称为单极型晶体管。 (2)场效应管是电压控制器件,它的输入阻抗高达107~1014,基本不需信号源提供输入电流。 场效应管的主要缺点是放大能力较低。 场效应管具有三极管体积小、重量轻、耗电省、寿命长的优点、噪声低、热稳定性好、抗辐射能力强的优点, 效应管类型较多,电压极性要求和特性曲线各不相同,工程上可方便灵活选用 N沟道MOS管 结型 P沟道MOS管 场效应管 增强型 N沟道MOS管 绝缘栅型 P沟道MOS管 耗尽型 N沟道MOS管 P沟道MOS管 1.4.1 基本结构 N沟道 P沟道 增强型N沟道 耗尽型N沟道 增强型P沟道 耗尽型P沟道 ☆耗尽/增强型;N/P沟道 区分: 在漏极和源极之间加上电压UDS, 由于N+漏区和N+源区与P型衬底 之间形成两个PN结,无论UDS极 性如何,两个PN结中总有一个因 反向偏置而处于截止状态, 漏极和源极没有导电通道, 漏极电流ID为零。 UDS 导电通道形成-场效应 正向电压UGS,由于栅极铝片与P型衬底 之间为二氧化硅绝缘体,它们构成一个 电容器,UGS在二氧化硅绝缘体产生一个 垂直于衬底表面的电场,电场方向向下, 由于二氧化硅绝缘层很薄,产生的电场 强度很大(V/μM)在电场作用下,P衬 底中的电子被吸引到表面层。当UGS较小 时,吸引到表面层中的电子很少,而且 立即被空穴复合,只形成不能导电的耗 尽层。 当UGS≥ UGSON时,吸引到表面层中的电子, 除填满空穴外,多余的电子在原为P型半 导体的衬底表面形成一个自由电子占多数 的N型层,故称为反型层。反型层沟通了 漏区和源区,成为它们之间的导电沟道。 ☆开启电压UGS(TH) 使增强型场效应管刚开始形成导电沟道的临界电压。 夹断电压UGS(OFF ) 耗尽型场效应管导电沟道刚开始断开的临界电压 如果加上栅源电压UGS>UGSON后, 在漏区和源区形成了导电沟道,同 时再加上漏源电压UDS>0,导电沟 道形状会变成逐渐减小的楔形形状. 这是因为UDS使得栅极与沟道不同位 置间的电位差变得不同,靠近源极一 端的电位差最大为UGS;靠近漏极一 端的电位差最小为UGD=UGS-UDS, 反型层为楔型的不均匀分布。 改变栅极电压UGS,就能改变导电沟道的厚薄和 形状,即改变导电沟道的电阻值,实现对漏极 电流ID的控制作用。与三极管的不同之处是: 三极管是由IB来控制IC的,是电流控制元件。 场效应管是由UGS来控制ID的,故为电压控制元件, UGS对ID的控制能力可通过跨导gm来表示。 gm= UDS=常数≈ 当UDS继续增加,UGD=UGS-UDS减小,沟道在接近漏极 处消失,结果楔形导电沟道如图所示,这时的状态 称为预夹断。预夹断不是完全将导电沟道夹断,而是 允许电子在导电沟道的窄缝中以高速流过,保证沟道 电流的连续性。管子预夹断后,UDS在较大范围内变化 时,ID基本不变,进入恒流区。 ☆增强型场效应NMOS管导通的条件为:UGS>UGS(TH) UDS>UGS>0 1.转移特性 在UDS一定时,漏极电流ID与栅源电压 UGS之间的关系ID=f(UGS) 当栅源电压小于开启电压时, 漏极电流为零 (0<UGS<UGS(TH),ID=0) 开启电压增强型场效应管刚开始形成导电沟道的临界电压UGS(TH) 夹断电压耗尽型场效应管导电沟道刚开始断开的临界电压UGSOFF 开启和夹断电压的极性!! 当栅源电压大于开启电压时(UGS>UGS(TH)),

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