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第八章 控制理论实验 本章节介绍控制理论的实验内容，其中包括控制系统典型环节的模拟，一阶系统、二阶系统、三阶系统的性能分析，PID控制器的动态性能，控制系统的动态校正、典型环节频率特性的测试、线性系统频率特性的测试、信号的采样与恢复、典型的非线性环节、非线性系统的相平面分析实验。 实验一 控制系统典型环节的模拟 一、实验目的 (1)熟悉超低频扫描示波器的使用方法。 (2)掌握用运放组成控制系统典型环节的模拟电路。 (3)测量典型环节的阶跃响应曲线。 (4)通过实验了解典型环节中参数的变化对输出动态性能的影响。 二、实验所需挂件及附件 序号 型 号 备 注 1 DJK01 电源控制屏 该控制屏包含“三相电源输出”等几个模块。 2 DJK15控制理论实验 或DJK16控制理论实验 3 双踪慢扫描示波器 或数字示波器 4 万用表 三、实验线路及原理 以运算放大器为核心元件，由其不同的R-C输入网络和反馈网络组成的各种典型环节，如图8-1所示。图中Z1和Z2为复数阻抗，它们都是由R、C构成。 基于图中A点的电位为虚地，略去流入运放的电流，则由图8-1得： 由上式可求得，由下列模拟电路组成的典型环节的 传递函数及其单位阶跃响应。 (1)比例环节 比例环节的模拟电路如图8-2所示：