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设计人员无损检测基础知识 （董守江） 前言：今天一共讲下述5个方面的问题： 1. 三个有关无损检测方面的定义： 2. 无损检测的作用(或目的): 3. 四种常用无损探伤方法的简介： 4、四种常用的无损探伤方法的补充内容： 5、设计人员应重点了解的有关无损检测的知识： 下面从第一个问题讲起。 1. 三个有关无损检测方面的定义： 无损探伤（无损检验、无损检查）(NDI—Non-Destructiv Inspection)的定义：在不损坏的条件下，对物体（包括：工件、原材料、组合件等）进行结构完整性（即缺陷）检查。 无损检测（或无损试验）（NDT—Non-Destructiv Testing）的定义： 在不损坏的条件下，对物体（包括：工件、原材料、组合件等）进行结构完整性（即缺陷）检查和某些物理参数的测量。 无损检测评价（NDE—Non-Destructiv Evaluatino）的定义： 在无损检测借助于计算机技术、电子成像技术，获取缺陷详细的、准确的信息之后，再运用材料力学和断裂力学对材料和工件进行使用性能的安全评定。 2. 无损检测的作用(或目的): ⑴ 监督和改进生产工艺; ⑵ 检查缺陷,保证产品质量; ⑶ 降低生产成本; ⑷ 保证和监督设备运行安全。 3. 四种常用无损探伤方法的简介： 射线探伤（RT—Radiographic Testing）、超声探伤（UT—Ultrasonic Testing）、磁粉探伤（MT—Magnetic Testing）、渗透探伤（PT—Penetrant Testing）是四种最常用的检测方法。射线探伤和超声探伤主要是检查内部缺陷；磁粉探伤、渗透探伤则用于检查表面或近表面的缺陷。为了更简明的，更直接的了解上述四种方法，特列出对照表如下： 四种常用无损检测方法的对照表 探伤方法 项目 射线照相探伤 超声波探伤 磁粉探伤 渗透探伤 方法原理 射线透过工件，使胶片感光，以测定缺陷。 以测定超声反射波的位置和高度，检测缺陷。 工件被磁化以后，用磁粉为介质，测定漏磁现象来检测缺陷的方法。 以渗透为基础，用毛细管原理，借荧光和着色，来测定缺陷。 主要用途 探伤和结构分析 探伤 检测效率 低 高 高 较高 缺陷显示 直观 不直观（A型显示） 直观 缺陷显示方式 缺陷平面投影图象 电脉冲波/缺陷刨面/缺陷投影 附着的磁粉 回渗的着色液或荧光液 缺陷显示器材和物资 感光胶片 荧光屏 磁粉 显象剂和荧光液 污染或危害程度 有一定的危害性 无 污染低 污染较高 4、四种常用的无损探伤方法的补充内容： 4.1 射线探伤补充内容: 射线透照的基本方法： 射线透照的基本方法有三种：单壁单影法、双壁单影法、双壁双影法。 射线防护的方法： 射线防护的方法有三种：时间防护法、距离防护法和屏蔽防护法。 底片质量的要求： ⑴ 标识齐全，位置正确；⑵ 黑度符合标准要求；⑶灵敏度符合标准要求；⑷ 评定区内无伪缺陷。 4.2 超声检测的补充内容： 超声波的波型： ⑴ 纵波：质点的振动方向和波的传播方向一致。 ⑵ 横波：质点的振动方向和波的传播方向垂直。 ⑶ 表面波：质点的振动是圆形滚动，超声波在工件表面传播。 超声波的常用探伤方法： ⑴ 纵波A型显示探伤法： ⑵ 横波A型显示探伤法： 超声探伤的显示方法： ⑴ A型显示； ⑵ B型显示； ⑶ C型显示。 当量缺陷的概念： 超声波探伤时给出的缺陷大小为当量缺陷，当量缺陷不是实际缺陷大小。所谓当量缺陷是指，缺陷反回的超声波的能量，与某一标准反射体反回的超声波能量相当，即称为这一反射体的当量缺陷。 4.3 磁粉探伤的补充内容： 常用的磁粉探伤方法： ⑴ 磁轭法: ⑵ 支杆法: ⑶ 磁钳法: ⑷ 旋转磁场法: 磁粉探伤时，缺陷的方向与检测灵敏度的关系： 缺陷的延伸方向与磁力线垂直，灵敏度最高，随着角度的变小，灵敏度降低。 4.4 渗透探伤的补充内容： 渗透检测工艺过程：渗透检测的工艺过程应分着色探伤和荧光探伤两个工艺过程叙述。 1、着色探伤工艺过程：⑴ 予清洗、⑵ 喷涂着色剂、⑶清洗工件表面的着色剂、⑷ 喷涂显像剂、⑸ 在日光下观察缺陷。 2、荧光探伤的工艺过程：⑴ 予清洗、⑵ 喷涂或浸泡荧光剂、⑶清洗工件表面的荧光剂、⑷ 在紫外线灯下和暗场的环境中观察缺陷。 5、设计人员应重点了解的有关无损检测的知识： 5.1四种常规探伤方法对于检测对象的局限性： 不同的探伤方法对于检测对象的厚度、形状、材料的种类和结构有不同的要求，具体情况见下表： 探伤方法 射线探伤 （RT） 超声探伤 （UT） 磁粉探伤 MT） 渗透探伤 (PT) 局限性 1、可以检