统计制程能力分析_SPC_-03-05-2004.pdfVIP

品質管理教育訓練 : 統計製程能力分析(SPC) 1. 統計製程能力分析(SPC ，STATISTICAL PROCESS CONTROL)係由美國品管大師修華德博 士提出利用統計管制方法，瞭解製程能力高低，並藉以作為改善製程或管制設定之依據，其 考量成本因素選用規格容許差為 6 σ(±3 σ)為基準。 2. 統計製程能力分析之用途: 2.1 設定儀器設備操作條件之評估與界限調整。 2.2 試產或實驗階段最佳條件之選用與修訂。 2.3 儀器設備驗收與生產管制標準依據。 2.4 選用最符合經濟成本效益之管制界限。 3.定義: Ca (Capability of accuracy)製程準確度:比較製程數據分佈中心值與規格平均值之差值 對規格容許差之比值。 Cp (Capability of precision)製程精密度:製程規格公差對規格容許差之比值。 Cpk (Capability of accuracy and precision) 製程能力總合指數: Cpk= (1- | Ca | ) Cp 4.計算公式與等級: 代 計算公式 等 分級基準 評定意義 號 雙邊規格 單邊規格 級 A | Ca |≦12.5% 製程能力良好 Ca x-u B 12.5% | Ca |≦25% 製程能力尚可 製程 Ca= 無 準確 T/2 C 25% | Ca |≦50% 製程應立即改善 度 D 50% | Ca | 應停止生產作業 Su-x A 1.33≦Cp 製程能力良好 Cp T Cp = u B 1.00≦Cp 1.33 製程能力尚可 製程 Cp= 3 σ 精密 6 σ x-SL C 0.83 ≦Cp1.00 製程應立即改善 度 CpL= D Cp0.83 應停止生產作業 3 σ Cpk A 1.33≦Cpk 製程能力良好 總合 Cpk=(1-| Ca |) Cp Min Cp B 1.00≦Cpk1.33 製程能力尚可 指數 C Cpk1.00 製程應立即改善 備註: (1) x =指生產或實驗產品量測之群體平均值。 (2) u =指設定規格之中心值。 (3) T =指設定規格之容忍公差所有範圍。 (4) σ=指生產或實驗產品量測之群體標準差。 (5) Su=指設定規格之中心值上限。 (6) S =指設定規格之中心值下限。 L 5.實例: 某製程設定產品厚度規格 5000±350um ，經實驗一批產品得到x±3 σ為4970±275um，試 求此實驗製程之 Ca 、Cp 、Cpk 值？ 解:(1)