第6单元-内建自测试.pptx

第六单元 内建自测试目前超大规模集成电路内包含的单元数越来越多，由此带来测试成本所占整个芯片成本的比例越来越大，并且随着芯片的应用层次的提高，测试成本按指数级数比例增长。譬如说一个芯片，当装配到电路板上后，其测试成本将增加10倍，而当该电路板装配成系统时，测试成本又将增加10倍以上。目前普遍认为能够有效解决芯片级测试成本的方案是在芯片内部安插“内建自测试（BIST：Build-in Self-test）”结构，通过这种方案，能够增加芯片测试的可控制性和可观测性，从而使测试向量生成和验证测试变得容易一些。通常的测试是用CAD方法生成测试向量，然后使用ATE机台对被测芯片加载这些测试向量，通过收集响应结果并与预期结果对比，来检测芯片是否能够正常工作。而另一方面，带有BIST结构的芯片，测试向量的生成和对输出结果的评估都是在芯片上完成的，这样一来，只有施加激励的过程是在ATE机台上完成，从而避免占用太多的ATE机时，节省了测试成本。上图为一个基本的BIST结构，其中测试向量生成器的主要功能是对待测电路施加激励，所产生的输出结果送到输出响应分析器中，一般来说，BIST结构比较容易在电路设计阶段实现，而且也具有很高的故障覆盖率。第六单元 内建自测试BIST的测试向量生成技术输出响应分析循环型BIST1. BIST的测试向量生成技术BIST的测试向量生成技术可以分成三类：穷举/伪穷举测试法；伪随机测试法；确定性测试法。穷举测试法穷举测试法，顾名思义，就是对被测单元施加所有可能的输人向量，因此，对于一个有n个输人端的待测电路，需要的测试向量将达2n个。这种方法的好处是故障覆盖率高，所有非冗余故障都能测试出来，但是对于一些特殊的桥接故障，如某个桥接故障改变了电路的性质，则这个故障就有可能测不出来。这种方法对于大规模电路来说，当输人管脚很多时，就不太适用了，根据目前经验，对于输人管脚数在25个以下的电路可以用这种方法。1. BIST的测试向量生成技术对穷举测试法进行适当修改，保持其故障覆盖率高的优点，但想办法将需要的测试向量数目降低，就出现了“伪穷举测试法”。该方法的基本思想是将待测电路分成几个子电路，每个子电路的输人管脚数较低，应用穷举测试法能很容易地完成对这部分子电路的测试，这种概念应用在了“自主测试验证技术”中。1. BIST的测试向量生成技术 1. BIST的测试向量生成技术自主测试也称为“验证型测试”，对于多输出端电路是适用的，一般地说，对于多输出端电路的某个输出端，只有部分内部电路和它相对应，划分内部电路时的出发点是它的“相关矩阵”。电路的相关矩阵具有m行、n列，每一行代表一个输出，每一列代表一个输人，矩阵中的每一项用(i, j)来代表，其中i = 1 ~ m，j = 1 ~ n。如果输出与输人j相关，则这一项(i, j) = 1，否则这一项为零。相关矩阵相关矩阵分割ABCX000Y010ACBX101Y011测试验证组缩减验证测试组A/CBC0000101011111. BIST的测试向量生成技术伪穷举测试向量生成技术对于组合电路来说，如果有n个输人端，用穷举测试法将需要2n个测试向量，通过分析发现，不是所有的输人都和输出相关，假设与输出相关的输人有w个，则实际需要的测试向量是2w个，这就是伪穷举测试法的根本出发点。例如，有一个六输人电路，假设其中每个输出都只跟其中两个输人有关，则只需要六个测试向量就可以了：1111110000010000010000010000011. BIST的测试向量生成技术?这些测试向量可以通过一些多项式产生出来，例如，系列多项式就可以：然而，如果是多输出端电路，其中一个输出和两个以上的输人变量有关，则使用多项式的方法进行最小测试向量的推导就不太合适了。一般说来，对于一个具有n个输人端和m个输出端的组合电路，可以用下面的方法推导伪穷举测试向量：并发驱动计数法等权重计数法线性反馈移位寄存器和移位寄存器组合法线性反馈移位寄存器和异或门组合法1. BIST的测试向量生成技术并发驱动计数法对于有n个输人端的电路，如果其中p个输人的测试结果包含了另外n-p个输人的测试结果，则电路按照穷举法需2p个输人向量。三个输出y1、y2和y3中，不存在既和a又和b相关的输出，所以a和b可以输人相同的信号；另外，也不存在既和c又和d相关的输出，所以c和d可以输人相同的信号。测试电路输人时，可以简化成p = 2，需要22个向量。该方法的缺点是，如果p接近于n ，则伪穷举测试法与穷举测试法相比就没有什么优势可言了。1. BIST的测试向量生成技术等权重计数法对于一个具有m个输人端的电路，如果任何一个输出端相关的输人端数目最多为x个，则另外选一个数Y，要求从其中的m列的编码中都能找到2x个输人组合。上图所示电路，有