基于多层小波变换的朗奇图像优化分析-optimization analysis of lanci image based on multi-layer wavelet transform.docxVIP

测方法和测试仪器。非球面的检测技术已经为光学器件加工的瓶颈，各国都对此投入了大量的人力物力进行研究改进，因此研究如何提高大口径非球面的高精度检验具有极为重要的现实意义[2]。1.2国内外发展现状大口径透镜具有以下显著的优点：①扩大视场；②降低系统复杂度；③提高空间分辨率；④增强获取的信号能量。相对孔径较大的透镜可以使成像质量提高，成像的亮度增强和系统重量得以减轻。因此，从上世纪90年代以来，许多发达国家在条件允许的情况下，研制激光发射系统、高空侦查相机和大口径光学望远镜时，都尽可能增大主镜的口径，以此来得到更加清晰的图像。1.2.1大口径光学系统国内外发展现状在1990年4月25日，由美国航天飞机送上太空轨道的“哈勃”望远镜长13.3米，直径4.3米，重11.6吨，造价近30亿美元。它以2.8万公里的时速沿太空轨道运行，清晰度是地面天文望远镜的10倍以上。同时，由于没有大气湍流的干扰，它所获得的图像和光谱具有极高的稳定性和可重复性。成为天文史上最重要的仪器，它已经填补了地面观测的缺口，帮助天文学家解决了许多根本上的问题，对天文物理有更多的认识。它使用极端复杂的电脑控制抛光机研磨镜子，时间长达近两年，是人类历史上一项伟大的工程。表1不同时期国外望远镜口径及相对孔径的变化非球面制造技术更多的是应用在军事方面。随着技术的不断改进提高，对空间遥感器的技术指标的要求也越来越高。因此，就必须获得较高的分辨率和较大的视场角，例如美国的高空侦察飞机，其所携带的高性能相机的镜头，就需要运用复杂的技术进行加工和检测。新一代的空间相机为了实现军事用途，一般通过采用质量较轻的大尺寸非球面光学元件来综合提高系统的分辨率、增大视场角度、降低系统复杂性，从而降低系统重量，发射成本也随之降低。非球面制造技术的应用和发展，使我们具备了大幅度提升航天相机分辨率和成像质量的能力。空间遥感器AMSDNMSDALOTNGST口径（m）1.5248表2美国的几种大口径空间遥感器及其口径我国现阶段对大口径系统研制主要是应用于天文观测方面，比较有代表性的是南京天仪制造的2.16m望远镜主镜，云南高美古天文台的2.4m天文望远镜。1.2.2非球面检测技术国内外发展现状光学检测技术需要针对不同的检测对象和检测要求来采用合适的原理、方法和手段，为了满足飞速发展的非球面加工的需要，国内外的大量专家进行的深入的研究并发展出多种光学检测方法。随着光学精密加工制造技术的持续发展，非球面光学系统已经广泛的应用于各种光学器件中，研制口径大、精度高的非球面也成为可能，精密和超精密非球面镜加工与检测技术已成为发展现代高新技术和产品的关键手段。从某种意义上说,没有与加工精度相适应的高精度检测方法及仪器,精密和超精密加工就难以实现[4]。对于非球面零件的面形测量,八十年代以来,国内外对面型轮廓法、干涉法、激光扫描法等各种检测方法进行了大量研究。对于非球面器件的检测，主要是评价它的面形，这其中包括两个方面，一方面是面形精度，另一方面是面形的表面粗糙度。由于非球面的多样性和复杂性，所以到目前为止还没有一种通用的方法可以测量所有类型的非球面面形。非球面主要有三类基本的测量方法，分别是干涉法、几何光线检测法和直接的面形轮廓法[5]。它们又可以衍生出多种不同的测量方法，具体见下表。检测方法种类具体分类几何光线检测法光栅法，刀口阴影法，哈夫曼法和朗奇法等干涉法零位检测补偿法，计算全息法，光学全息法等非零位检测剪切干涉法，双波长全息法，欠采样法，长波长法等面形轮廓法三维坐标法等表3非球面检测技术分类目前在国内对大口径非球面镜的检测，检测方法主要有超精密三维测量法，激光干涉法，计算全息法，剪切干涉法，哈德曼检验法，刀口阴影法，逆Ronchi检测法等，下面具体介绍常用的几种测量大口径非球面镜的方法[5-13]。1、超精密三维测量法：此种测量方法依照的原理是根据光束频率的变化来检测光学器件。我们使用频率较为稳定的塞曼双频激光器作为光源，发射的光束会聚到需要检测的大口径非球面上，由于反射光束的频率会发生变化，可以得出非球面器件的坐标，同时，如果被测的大口径非球面产生倾斜的情况，反射光束也会沿着原来的光路返回，因而也可以检测具有较大倾斜角度的非球面透镜，整个过程全部由计算机进行控制。从检测的原来来看，其测量精度可以达到0.1μm，因而可以得到比较高的精度。2、激光干涉法：它是用激光干涉仪直接检测大口径非球面，利用波面拟合及相减技术把从干涉仪获得的被检测波面与计算所获得的理想波面做波面相减，获得非球面面形误差。这种方法的优点是简化了大口径非球面的检测过程，而不需要额外的零位补偿器的加工和检测，降低了检测成本。但也有其缺点，因为系统的机械精度对检测精度的影响很大，从目前的技术水平来说，检验精度一般只能达到±1μm，又因需要对非