第一章 材料分析测试基本方法 材料分析基本方法.pptVIP

1.4 X射线与物质相互作用 1.4.2 X射线的吸收 物质对X射线的吸收是指X射线通过物质时光子能量变成了其他形式的能量，是真吸收过程。 1.光电效应 光电效应是指物质在光子作用下放出电子的过程。 X射线与物质的相互作用可以看成是光子与物质中原子的相互碰撞。当光子具有足够能量时，可以将原子内层电子击出，原子处于激发态，外层电子向内层空位跃迁，多余能量以辐射方式释放——二次特征X射线或荧光X射线。 以激发K系光电效应为例：入射X光子能量必须等于或大于将K电子从K层移至无穷远处所做的功WK，即 称λK为物质的K吸收限，与连续谱短波限λ0相似，但物理意义不同。 λ0仅与管电压有关，而每种物质的K激发限波长λK都有自己特定的值。 1.4 X射线与物质相互作用 1.4 X射线与物质相互作用 2.俄歇效应 1925年由俄歇发现。 原理：原子内层电子被击出→K层空位→L层电子向空位跃迁→多余能量使L层或更外层电子电离→俄歇效应，电离出的电子称俄歇电子。 对于特定材料的特定俄歇电子具有特定的能量，测定其能量（俄歇电子能谱）可以确定原子的种类。因此，利用俄歇电子能谱可以进行元素成分分析。 1.5 X射线衰减规律 X射线通过物质时引起的强度衰减与通过的距离成正比，即 μ-物质线吸收系数，与物质状态有关，“-”表示随距离增加强度减小。 对上式积分，得： 该式表明，X射线通过物质时强度呈指数衰减。 1.5 X射线衰减规律 对于合金、化合物、混合物等多组元物质，其μm按下式计算： μm=w1 μm1+w2 μm2+w3 μm3+…+wn μmn； wn— 各组元的质量分数，μmn—各组元的质量吸收系数。 X射线通过物质时的衰减是散射和吸收造成的，用σm表示散射系数，用τm表示吸收系数。 通常，τm＞＞σm，得μm≈τm。 μm=kλ3Z3 λ—X射线波长；Z—元素原子序数。 引入质量吸收系数μm= μ/ρ，表示物质穿过面积为 1cm2的1g物质时衰减的程度，与物质状态无关。 材料分析测试方法 材料物理专业 材料分析测试的重要性 材料性能 成分、结构 材料分析测试方法 前 言 材料分析测试方法是关于材料成分、结构、微观形貌 与缺陷等的分析、测试技术及其有关理论基础。 分类 基于电磁辐射及运动电子束和物质相互作用的各种性质建立的各种分析方法已经成为材料分析测试方法的重要组成部分，大体可分为衍射分析、光谱分析、能谱分析和电子显微分析四大类方法。 前 言 ⑵光谱分析是以材料成分分析为基本目的的分析方法， 包括各种吸收光谱分析方法、发射光谱分析方法和散射光谱〔拉曼散射谱〕分析方法。 ⑴衍射分析是以材料结构分析为基本目的的分析方法，包括X射线衍射分析、电子衍射分析和中子衍射分析等。 前 言 ⑶能谱分析是以材料成分分析为基本目的的分析方法，包括光电子能谱、俄歇电子能谱、离子中和谱和电子能量损失谱。 ⑷电子显微分析是以材料微观形貌、结构与成分分析为基本目的。其中的一些分析方法也可归于光谱分析〔如电子探针〕、能谱分析〔如电子激发俄歇能谱〕和衍射分析〔如电子衍射〕等范畴。透射电子显微镜分析和扫描电子显微分析及电子探针分析是基本的电子显微分析方法。 1912年，法国物理学家劳厄提出2个假设∶ X射线是电磁波，波长为原子线度的1/10； X射线能产生衍射 。 上述假设通过硫酸铜单晶衍射实验得到证实。 同时期，英国布拉格父子从反射角度提出设想：用X射线照射晶体中一系列相互平行原子面将会产生反射，并认为只有反射线相互叠加时反射才能发生，相互抵消时反射并不存在→反射的选择性。并推导出了布拉格方程： 2dsinθ=nλ 1913年，布拉格用X分光计首次测出了NaCl晶体结构 第一章 X射线的物理学基础. 通过这些研究，X射线学出现了2个分支： 第一章 X射线的物理学基础 根据衍射花样，在波长已知的情况下测定晶体结构，研究与结构和结构变化相关的各种问题→X射线衍射学 根据衍射花样，在分光晶体结构已知的情况下测定各种物质发出的X射线的波长和强度，研究物质的原子结构和成分→X射线光谱学 1.1 X射线的性质 1.1 X射线的性质 现象：X射线人肉眼不可见，能使气体电离，使底片感光，能穿过不透明物质，产生荧光，呈直线传播，在电磁场中不发生偏转，对生物有机体产生作用…… 1.1 X射线的性质 本质：X射线是波长极短的电磁波，介于紫外线和γ射线之间。 呈现波粒二象性： 波动性：以一定频率和波长在空间传播，反映物质运动连续性。 粒子性：以光子形式辐射和吸收 时具有一定质量、能量和动量，反映物质运动分立性。 ε=hυ=hc/λ