连接器_教育培训-连接器检测技术知识与规范篇.pptVIP

;目 錄;1. 國際規範: 1-1-1 MIL-STD-1344A 1-1-2 MIL-STD-202F 1-1-3 EIA-364C(美國電子工業學會Electronic Industries Association) 1-1-4 IEC-512(國際電委員會International Electromechanical Commission) 2. 產品或業界規範: 1-2-1 MIL-STD-24308C for D-SUB CONN 1-2-2 PCI,EISA Standard 1-2-3 IEEE 1394 1-2-4 PCMCIA 1-2-5 EIA-540 BOOO,EIA-540 BAAA for ZIF SOCKET 3. 我司所使用的規範為: 1-2-1 MIL-STD-1344A 1-2-2 MIL-STD-202F 1-2-3 EIA-364(美國電子工業學會Electronic Industries Association) ;7-2. 檢測設備介紹;7-2 檢測設備介紹;1. 絕緣阻抗測試(Insulation Resistance): 1-1 量測目的: 評估連接器之絕緣材料在通過直流電壓後,其表面產生漏電流狀況, 以判定其絕緣程度. 1-2 量測依據: MIL-STD-1344 A,method 3003.1 1-3 量測方法: 1-3-1 測試位置為最靠近之相鄰兩端子或端子與鐵殼,如果是同軸連接器 則為內部與外部之端子. 1-3-2 測試時間: 2分鐘 1-3-3 測試電壓: 500Vdc 或特別規定. 2. 耐電壓測試(Dielectrics With standing Voltage): 2-1 量測目的: 評估連接器之安全額定電壓及承受瞬間脈衝電壓之安全性, 進行評估連接器的絕緣材料與其組成絕緣間隔是否適當. 2-2 量測依據: MIL-STD-1344 A,method 3003.1 2-3 量測方法: 2-3-1 量測點為最接近的相鄰兩端子,及shell與最接近shell的端子間. 為內部與外部之端子. 2-3-2 測試時間: 1分鐘 2-3-3 耐壓過程之漏電流除特別規定外,不得超過5mA,一般以0.5mA為測試需. 2-3-4 測試電壓除特別規定外,一般以交流電壓為測試需求. ;3. 低功率接觸阻抗(Low Level Contact Resistance) : 3-1 量測目的: 在不破壞端子表面的氣化薄膜下,測試結合兩端子間接觸阻值, 以作為連接器端子之總體性評估. 3-2 量測依據: MIL-STD-1344 A,method 3002.1 3-3 量測方法: 3-3-1 以四線量測法量測結合端子之電阻值,如圖示: 3-3-2 量測電流: 100mA maximum 3-3-3 開路電壓: 20mV maximum 4. 溫升測試(Temperature Rise) 4-1 量測目的: 評估端子能攜帶規格之額定電流在規???時間內,其溫升不得超過規定值. 4-2 量測方法: 4-2-1 以測溫線貼於產品三個面,在產品公座母座接上正負極電流 4-2-2 測試時間 4~8 hr 4-2-3 測試電壓以一般或特定電壓.瓦數.伏特設定測試;1. 鹽水噴霧試驗 1-1量測目的: 評估連接器金屬配件及端子鍍層抗鹽霧腐蝕的能力. 2. 恆溫恆濕試驗 2-1量測目的: 評估連接器在經高溫高濕之環境儲存後對產品電氣特性的影響及 在高溫高濕環境裡的操作可行性評估. 3. 冷熱衝擊 3-1量測目的: 評估電子元件在急速的高低溫差變化下,對於其功能品質的影響. 4. 高溫試驗