第一次课数电概述和基本门电路.pptVIP

* 当怀疑芯片坏了时，对于SSI或功能简单的MSI，可以通过测试它的逻辑功能，迅速做出判断。检查时，一般需要将被查对象从电路中分离出来，即将其输入、输出同其他电路断开，再根据其逻辑功能进行检查。 例如，检查一个多输入“与非”门，当其输入全“1” 时，输出应为“0”；如果有一个输入端为“0”，则输出为“1”。通过检查如果不符合上述情况，就说明该门已经损坏。 又例如，在检查8选1数据选择器时(使能端确已接好)，使地址输入分别为000～111，看输出是否分别与D0～D7相同，即可做出判断。对于复杂的MSI或LSI，可以用专用的集成电路测试仪来进行测试。 集成电路芯片故障 第32页/共45页 * 4、检查电路的一般方法 对于组合电路，主要检查输入、输出信号之间的逻辑关系是否能得到实现。 对于时序电路，应首先检查时钟信号是否加上，以及是否满足电路对时钟的要求（时钟脉冲频率、高低电平、上升下降时间等）；再查使能端、清零端、置位端(不能悬空，避免引入干扰)是否按要求接好。然后按照电路的逻辑功能，分别检查各级电路的输入、输出关系引脚，用示波器（置DC偶合）看电压是否正常。 第33页/共45页 * 在检查电路时，应按照电路的逻辑功能进行推理分析，一步步缩小故障范围，最后找出故障加以排除。这样查错的方法，比盲目地反复检查布线要迅速、可靠得多。 对于有故障的多级电路，为了减少调测工作量，可先把可疑的范围分作两个区，通过检测，判定前后两个部分究竟哪一部分有故障；然后再将有故障的部分继续进行对分检测，直到找出故障为止。 检查电路的一般方法 第34页/共45页 * 对于CMOS电路要预防锁定效应。CMOS电路特有一种失效模式——锁定效应，也称作可控硅效应，这是器件的固有的故障现象。其原因是由于器件内部存在正反馈。消除了正反馈形成条件，即可预防锁定效应。正反馈形成条件可能是下述情况之一： 输入信号电压高于VDD或者低于VSS； 用手触摸输入引脚； 加直流信号和脉冲信号的顺序不正确。 断开电源，稍后重加电源并纠正错误的操作方法可消除锁定效应 检查电路的一般方法 第35页/共45页 * 在实验中完全不出故障是不可能的。要求我们做到： 实验前准备充分，实验时操作细心，将故障减少到最低限度。 出现故障时应开动脑筋，自觉应用所学知识，仔细分析，认真检查，积累经验，不断提高解决问题的能力。 检查电路的一般方法 第36页/共45页 * 一、P138J1 设计一个组合电路,该电路有3个输入信号分别为A，B，C，有1个输出信号为F，要求该电路有2个或2个以上输入信号为1时输出信号F为1，其余情况输出信号F为0。 输入 输出 A B C F 0 0 0 0 0 0 1 0 0 1 0 0 0 1 1 1 1 0 0 0 1 0 1 1 1 1 0 1 1 1 1 1 真值表 逻辑表达式 第37页/共45页 * P138J1 电路图 第38页/共45页 * P138J1装配调测 将稳压电源单路12V电压连接到实验箱（12V正端连接实验箱+12V接线柱，12V负端连接实验箱GND接线柱），合上实验箱的电源开关，实验箱正电源的三个指示灯亮。再关闭实验箱的电源开关。 在实验箱14脚集成电路插座上插上两片7400， 缺口朝左，管脚与插口一一对齐，勿遗漏或折弯管脚。勿忘连接VCC和GND管脚。连接、检查、核对接线无误。 第39页/共45页 * 接通电源 作静态测试： 输入（C、B、A）接实验箱的K1~K8任3个插孔，输出F送逻辑电平显示任1个插孔。 根据真值表，顺序按动输入开关000~111，检查、核对输出是否与真值表一致。 P138J1装配调测 第40页/共45页 * 用译码器设计一个一位全减器电路 输入：A-本位被减数，B-本位减数，C-低位向本位的借位 输出：S-本位差，T-本位向高位的借位 输入 输出 A B C T S 0 0 0 0 0 0 0 1 1 1 0 1 0 1 1 0 1 1 1 0 1 0 0 0 1 1 0 1 0 0 1 1 0 0 0 1 1 1 1 1 由真值表得： 画出电路原理图（略） 第41页/共45页 * 实验提示 画出电路原理图，标注器件型号、管脚号。 第42页/共45页 * 实验提示 在实验箱上搭电路： 在实验箱上两个16脚集成电路插座上插入74138、 14脚集成电路插座上插入7420，缺口朝左，管脚与插口一一对齐，勿遗漏或折弯管脚。再根据电路图，插上全部连接线： 管脚与管脚之间注意核对脚号，连线勿插错。输入A、B、C分别接实验箱K1~K8中的任意3个。 输出S、T接实验箱逻辑电平显示中的任意2个 集成电路左上管脚连接+5V，右下管脚连接GND 第43页/共45页 * 实验提示 电路检查无误后合上实验箱的电源开关，通电作静态测试：