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干式空心电抗器电流分析与损耗 第34卷第12期 19g7年12月TRANsFoRMERVOl34N012 Deeember1997 程序,制造工艺,原材料使用的分析,指出了干式空,电抗嚣环流损耗产生的原田,提出了解袅环流掘耗 的连径 关键词:空电抗器丛’啦冲施 LossandCurrentDistributionofDry——TypeAir——CoreReactor ZhouShuqin ShenyangTransfornlerCo,Ltd,Shenyang110025 YangLijun PowerBuearuofHeilongJiangProvince,HarbinI50030 Abstract:Accordingtothestructuralfeaturesofdry—typeaircorereactor,itslossand currehtdistributionareintroducedinthispaper.Thereasonofgeneratingcircularcur— rentlossindry—typeair—corereactorisexpounded,andthewayofreducingtheloss ispresentedthroughanalysisofcalculatingprogramprocessingandtheuseofrawnla? terial Keywords:Air—corereactor.Dry一￡Current.DistributionLoss 1前雷:蠹构损耗’此种产品结构件较 这里所谈的干式空心电抗器,一般由若干 个包封组成包封阃呈并联,其间有气道,每个 包封包含3～5个螺旋管式绕组,其首末端分 别焊到上,下铝制的接线架上. 产品运行中,绕组内除了有负载电流外,还 存在着由磁场作用而产生的电流,即在每根导 线内存在着涡流和在并联支路问存在着循环电 流(以下简称环流).这两种电流与负载电流 不同,它们不流出绕组,而在绕组内闭合.与 此相应,绕组内即存在着电阻损耗,涡流损耗和 环流损耗. 除了上述损耗外,在产品上,下铝制接线架 在损耗测量时,测得的是产品的总损耗.各 损耗占总损耗多少是无法分开的,只能根据某 些参数进行分析或估算. 2包封内电流分布 一 个包封包含几个并联绕组,每个绕组内 存在着负载电流,涡流和环流.人们在实验中 测得的电流是这三种电流之和.一个包封内各 绕组的电流之和通常大于按电流分配的总的负 载电流(如下表所示),其差值的大小,即反映 绕组间环流的大小(当采用圆导线时,涡流可 以忽略) 耗勰蔬 与 一 电 器 抗 电 一 第12鞋周书琴,杨7=军干式空心皂抗器电沛分与损耗7 DKG1模型的各包封与分层绕组电流值 A4445AlAlnl315【A) 绕组序号AllAl:lAA.1A..AA一A 绕组电流 s 斗wlJlI8351旺938l1.5645966l111d6605I 图1测试各包封与分层绕组电流值示意图 3电阻损耗与涡流损耗 电抗器各绕组的负载电流分配主要决定于 电抗分配电阻与电抗相比小得很多,在计算电 流分配时,电阻可忽略不计用现代技术计算 电抗负载电流分配,电阻损耗均可以算得较 精确 电抗器绕组的涡流损耗是导线在磁场作用 下产生的.涡流损耗与漏磁感应强度导线材 料的电导率,频率及导线在垂直漏磁场方向的 尺寸平方成正比,与电流密度成反比.干式空 心电抗器一般采用圆铝导线.如果圆导线直径 与扁导线都垂直于漏磁场方向,在尺寸相同情况 下,则圆导线的涡流损耗约为扁导线的50%. 由于圆导线线规很小,所以涡流损耗占总损耗 的比例不大. 4环流损耗 若电抗器具有n层绕组,则方程为: f(,,,’,0,12.., 式中,X为第层绕组的匝数. 方程组的系数由绕组的线性尺寸负载电 流组成.当所求各层绕组的匝数越接近理论 值,则环流越小.在制造过程中,如果匝数绕制 较准.而绕组线性尺寸偏离设计值较大时.同 样会产生较大的环流. 4.1计算精度对环流损耗的影响 上式是一非线性方程组,其解为一实型数 组.计算表明,在求解过程中,如取的精度较 低,则求得的解(即各层绕组的匝数)与精度较 高时相比,有时会有几匝之差.此解与方程组 的理论值相差甚远,方程式失去平衡只有通 过环流来平衡,故在此情况下,会产生较大的 环流损耗 4.2设计方案对环流损耗的影响 电抗器的每个包封是由螺旋管式绕组并联 组成.设计时,绕组间可选取等电抗等高或不等 电抗不等高等方案.对负载电流较小的产品. 两种方案差别不大但对负载电流较大的产 品,绕组层数多,内外层匝数相差较大,如果采用 等电抗等高方案,外层绕组必须要有很多空匝 来填充.此时已不是一个完整的螺旋管式绕 组,而是由几个相互离散的短小绕组串