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计算机模拟首先是建立晶体或缺陷的结构模型，然后依据成像原理进行计算。目前常用的模拟计算是基于Bethe近似或多片层近似来进行的。有关的模拟软件有“Cerius”，“Deskrop Microscopist”，“EMS”，“EMS online”和“NCEM”等。这些软件中“EMS online”和“NCEM”是免费使用的，其它的则是商业软件。关于更多的软件信息可以在一些网站上搜索查询。许多软件不仅能进行高分辨电镜图像模拟，还可以进行电子衍射、X射线衍射、相图等诸多模拟工作，具有多种功能。 第96页/共99页 值得注意的是计算机模拟像的正确性依赖于你建立的模型、近似处理方法和采样数等模拟参数，如果模拟参数不正确，给出的模拟图像显然不能反映真实样品。所以计算机模拟也有一定的局限性 第97页/共99页 第98页/共99页 透射电子显微图象 质厚衬度 解释非晶态和有机材料和生物材料 衍衬衬度 解释晶体材料 相位衬度 解释高分辨图象 第99页/共99页 质厚衬度原理 电子显微镜图像的衬度取决于投射到荧光屏或照相底片上不同区域的电子强度差别。对于非晶体样品来说，入射电子透过样品时碰到的原子数目越多(或样品越厚)，样品原子核库仑电场越强(或样品原子序数越大或密度越大)，被散射到物镜光阑外的电子就越多，而通过物镜光阑参与成像的电子强度也就越低。 第64页/共99页 在试样中取一截面为单位面积的柱体，忽略原子之间的相互作用，入射电子的散射可以一个柱体单独考虑，单位高度电子受到的散射与这段柱体包含的原子数有关，其散射截面为： （7-3） 式中N——单位体积样品包含的原子数，ρ ——密度；A ——原子量；N0 ——阿伏加德罗常数，σ0——原子散射截面。 第65页/共99页 如果入射到单位样品表面积的电子数为n，当其穿透dt厚度样品后有dn个电子被散射到光阑以外，即其减小率为dn/n，因此有 （7-4） 若入射电子总数为n0，由于受到t厚度的样品散射作用，最后只有n个电子通过物镜光阑参与成像。将式（9-4）积分得到 n=n0exp(-Qt) （7-5） 由于电子束强度I = ne (e 为电子电荷)，因此上式可写为 I=I0exp(-Qt) （7-6） 第66页/共99页 上式说明强度为I0的入射电子穿透总散射截面为Q ，厚度为t的样品后，通过物镜光阑参与成像的电子束强度I 随 Qt 乘积增大而呈指数衰减。 当Qt=1时t=1/Q=tc （7-7） tc叫临界厚度，即电子在样品中受到单次散射的平均自由程。因此，可以认为，t≤tc的样品对电子束是透明的，相应的成像电子强度为 I=I0/e≈I0/3 （7-8） （7-3）式两边乘以t得： （7-9） 第67页/共99页 若定义ρt 为质量厚度，那么参与成像的电子束强度I 随样品质量厚度 ρt 增大而衰减。当Qt =1时 (ρt)c=A/(N0σ0)=ρtc （7-10） 我们把(ρt)c 叫做临界质量厚度。下面来推导质厚衬度表达式。 如图7-4所示，如果以IA 表示强度为I0的入射电子，通过样品A 区域（厚度tA ，总散射截面QA）后，进入物镜光阑参与成像的电子强度；IB 表示强度为I0 的入射电子通过样品B 区域（厚度tB ，总散射截面QB）后，进入物镜光阑参与成像的电子强度，那么投射到荧光屏后照相底片上相应的电子强度差?IA=IB-IA（假定IB 为像背景强度）。 第68页/共99页 习惯上以?IA/IB来定义图像中A区域的衬度（或反差），因此 ?IA/IB=(IB-IA)/IB=1-IA/IB （7-11） 因为 IA=I0exp（-QAtA），IB=I0exp（-QBtB），所以有 ΔIA/IB=I-exp[-(QAtA-QBtB)] （7-12） 第69页/共99页 上式说明不同区域的Qt值差别越大，图像衬度越高。一般认为肉眼能辨认的最低衬