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化合物半导体材料及器件基础

化合物半导体器件 Dai Xian-ying 化合物半导体器件 Compound Semiconductor Devices 微电子学院 戴显英 2013.8 Dai Xian-ying 第二章 化合物半导体材料 与器件基础 半导体材料的分类 化合物半导体材料的基本特性 Dai Xian-ying 2.1 半导体材料的分类 2.1 半导体的分类 绝缘体(1018-1010Ωcm),半导体(108-10-3Ωcm),金属(10-4-10-8Ωcm) 绝缘体(禁带宽度Eg大),半导体(禁带宽度Eg小),金属(导带与价带重叠) Dai Xian-ying 2.1 半导体材料的分类 2.1 半导体的分类 2.1.1 半导体的特征 室温下的电导率在103-10-8S/cm(或电阻率10-3~108Ωcm) 电导率呈正温度特性(金属呈负温度特性) 两种载流子参与导电(金属只有一种) Dai Xian-ying 2.1 半导体材料的分类 2.1 半导体的分类 2.1.2 半导体的特性 温度升高使半导体导电能力增强,电阻率下降 如室温附近的纯硅(Si),温度每增加8℃,电阻率相应地降低50%左右 微量杂质含量可以显著改变半导体的导电能力 以纯硅中每100万个硅原子掺进一个Ⅴ族杂质(比如磷)为例,这时 硅的纯度

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