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材料近代分析方法;章节内容;第1章 X射线的性质;X射线的性质;二. X射线与可见光;二. 热阴极射线管产生X射线;2. 热阴极X射线管的构造; 一、连续X射线谱 二、特征X射线谱;一、连续X射线谱;2．连续X射线谱的解释;二、特征X射线谱;① 特征X射线的产生机理;;X射线与物质的作用;;X射线光子与内层电子相互碰撞时,把能量全部传递给电子，电子作为一个新的电磁波源，向四周辐射与入射X射线频率相同的电磁波，产生波长不变的散射线，这些新的散射线之间符合干涉条件，可能会发生干涉——相干散射。;2.非相干散射 当物质中的电子与原子之间的束缚力较小 时，电子可能被X光子撞离原子成为反冲电子。 因反冲电子将带走一部分能量，使得光子能量 减少，从而使随后的散射波波长发生改变，成 为非相干散射。 ;X射线的非相干散射;Return;二. X射线的吸收;§1-5;2. 俄歇效应 ;散射与吸收;第二章 X射线衍射方向;晶体几何学基础;一. 空间点阵;晶胞——点阵中具有代表性的基本单元(最小平行六面体)。;一、X射线衍射的条件 二、X射线衍射 三、布拉格方程的推导 ;一、X射线的衍射条件;X射线在晶体结构中的相干散射;2.5 X射线衍射方法;一、 劳埃法;(1) 劳埃法(Laue Method);二、 周转晶体法;(2) 转晶法(Rotation Method);三、粉末法;;第三章 X射线衍射强度;衍射强度;照 相 法——底片的黑度; 积分强度示意图;3-2 结构因子FHKL;三. 结构因子FHKL;讨 论 方 法;1.一个电子对X射线的散射Ie2. 一个原子对X射线的散射 Ia3. 一个晶胞对X射线的散射 Ib4. 典型晶胞的结构因子计算;几个概念;4.典型晶胞的结构因子的计算;简单点阵：;结论：简单晶胞中，FHKL与 HKL无关，即HKL为任意整数时，都能产生衍射。 ;底心点阵：;讨论;体心点阵：;结论：体心晶胞中，只有当H+K+L为 偶数时才能产生衍射。;面心点阵：;;四种基本点阵消光规律;发生衍射的充要条件 ;结构因子 多重性因子 角因子 吸收因子 温度因子;一. 结构因子;二. 多重性因子;三. 角因子（极化因子和洛仑兹因子） ;四. 吸收因子;五. 温度因子;六. 多晶粉末试样的衍射积分强度;1、德拜-谢乐法的衍射线相对强度;2、衍射仪法的衍射线相对强度;第四章 ??晶体分析方法;1. 粉末照相法——采用感光底片来检测 衍射线的方向和强度。 （1）德拜-谢乐法 （2）聚焦照相法 （3）针孔法 2.衍射仪法——采用探测器和测角仪来检测 衍射线的方向和强度。 ;衍射圆锥的形成;粉末照相法衍射图的形成;德拜相机剖面示意图; ①样品要求： a. 细度10-3cm～10-5cm b. 细圆柱状粉末 ②实验数据的测定： 测定底片上衍射弧对的相对位置和相对 强度，计算θhkl和dhkl。;2. 底片的安装;底片安装方法示意图;衍射圆弧对相对位置和相对强度;入射角θ与弧对长度2L的关系式;德拜相衍射相对强度的度量; 同一测试条件—— 为常数 ;一、X射线衍射仪的基本组成及原理;① 试样台 ② X射线源 ③ 测角仪台 ④ 测角仪圆 ⑤ 测量动作;2）测角仪的衍射几何;3）测角仪的光路布置;3. 探测器(计数管)