清华大学材料分析200505结构分析.pptVIP

材料分析化学第5讲结构分析;材料结构分析引言;X射线衍射分析;X射线的产生;X射线的产生源;金属聚焦罩;特征X射线的产生机理;特征X射线的产生;特征X射线;几种常用阳极靶材料的特征谱参数 ;X射线的产生;X射线衍射分析 ;相干散射和非相干散射;X射线的吸收 ;X射线与物质的相互作用;清华大学化学系;X射线的衰减 ;X射线的吸收;X射线的吸收;X射线的虑波;X射线与物质的相互作用;X射线衍射的基本原理 ;X射线衍射;衍射过程;Bragg方程;① 选择反射;② 产生衍射的极限条件;③反射级数;典型样品的XRD衍射;X射线的衍射强度 ;衍射强度;X射线衍射的方法 ; 图4-6 X射线常规照相法衍射照片与衍射仪衍射图谱之比较;多晶衍射仪的组成 ;聚焦圆;样品要求;样品的制备; X射线衍射的物相分析 ;定性分析 ;;粉末衍射卡片 ;第1部分 ;应用方法;自动检索;定量分析 ;几种具体定量测试方法;薄膜分析;薄膜掠射分析：薄膜相分析;;二维XRD研究铝合金表面的TiN 物相随深度的分布;薄膜的XRD研究;材料状态鉴别;;晶粒度的测定;对于TiO2纳米粉体，其主要衍射峰2θ为21.5 °，可指标化为101晶面。 当采用CuKα作为X射线源，波长为0.154nm，衍射角的2θ为25.30 °，测量获得的半高宽为0.375 °，一般Sherrer常数取0.89。 D101＝Kλ/B1/2cosθ＝0.89×0.154×57.3、（0.375×0.976）＝21.5 nm。;晶粒大小测量的衍生;晶粒度测量的例子LaCoO3;小角X衍射;TiN/AlN纳米多层膜的XRD小角度衍射谱 ;黏土的小角XRD衍射图;XRD研究介孔结构;小角衍射测定介孔结构;物相测定;应用方面;具体方面;材料物相的指标化;纳米材料的合成（LaCoO3）;;纳米线的结构;介孔材料研究;薄膜催化剂研究;单层分散研究;电子衍射分析;LRS结构分析;结构分析内容提要;The END