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扫描电镜显微镜的原理及应用
内容列表
电子与固体试样的相互作用
1
扫描电镜结构原理
2
扫描电镜附件
4
扫描电镜样品制备
5
扫描电镜图象衬度原理
扫描电镜应用
6
电子显微镜vs光学显微镜
返回
Part 1 电子与固体试样的相互作用
电子与固体试样的相互作用
能量(eV)
横向距离(nm)
作用深度(nm)
入射电子
20k
5
1E+05
背射电子
俄歇电子
10E2~3
5
1
二次电子
50
5
10
背散射电子
10~20k
~100
100
特征X线
1~15k
1000
5*10E+03
扫描电镜电子信息
背散射电子
二次电子
形貌
成分
扫描电镜电子信息
特征X射线
元素
成分
返回
IC Device
Part 2 扫描电镜结构原理
扫描电镜结构原理
电子光学系统
电子枪
电磁聚焦
扫描线圈
返回
蔡司钨灯丝扫描电镜
Part 3 扫描电镜图象衬度
扫描电镜图象及衬度
二次电子象—形貌衬度
二次电子电子产额与入射角的关系
η∝1/cosθ
θ角越大,二次电子产额越高,这表明二次电子对样品表面状态非常敏感
返回
背散射电子像--原子序数衬度
背散射电子的信号强度I
Part 4 扫描电镜附件
波谱仪
能谱仪
扫描电镜附件
元素分析
定性分析
λ与Z的关系式可写成:
定量分析
试样中A元素的相对百分含量CA:
波谱仪vs能谱仪
比较内容
WDS
EDS
元素分析范围
4Be-92U
4Be-92U
定量分析速度
慢(几十min )
快(1~2min )
分辨率
高(≈5eV)
低(130 eV)
检测极限(接收信号的立体角)
10e-2 (%)
10e-1 (%)
定量分析准确度
高
低
X射线收集效率
低
高
峰背比(WDS/EDS)
10
1
返回
Part 5 扫描电镜样品制备
扫描电镜样品制备
块状或颗粒状
块状:Φ 25mm20mm
颗粒:铜网微栅
均质(定量分析)
较好的电导:喷碳膜/金膜
Part 6 扫描电镜的应用
扫描电镜的应用
粉体
扫描电镜的应用
截面
Laser切割LED芯片后之SEM照片
扫描电镜的应用
PSS-SEM
芯片静电击穿现象
抛光面
扫描电镜的应用
断口
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