集成运放参数测试仪毕业设计论文.docVIP

摘 要 集成运放测试仪是电子专业中一种常用的芯片测试设备。目前，市场上出售的集成运放测试仪比较少，而且价格昂贵。一般实验室都没有此类测试仪器。本课题针对这种现状，特意研制一台质量优良、成本低廉的集成运放测试仪。 集成运放测试仪主要用于测试运放芯片的参数和功能。本测试仪以STC12C5A60S2单片机作为控制核心，对运放测试电路的输入输出信号进行检测、处理，并将测试波形及参数显示到TFT彩屏上。集成运放测试仪的研究遵循一般的电子作品研究过程：首先进行系统理论分析与方案设计；然后分模块设计、测试；最后进行系统调试、测试。论文整体分为硬件设计和软件设计两大部分。然后从系统角度将测试仪分为单片机控制部分，功能按键输入部分、显示部分、信号源部分、运放测试部分和电源部分分别进行介绍。 研究结果表明自行研制的集成运放测试仪简单、实用，能够满足大多数专业人员的要求。测试仪摈弃了繁琐的功能，仅仅设置了四个按键、两种模式，并且采用TFT彩屏显示，方便专业人员观察测试结果。同时，本测试仪还存在一些不足，如不能做到通用、电路设计不完善等，需要继续深入研究。 关键词 集成运算放大器 单片机 芯片测试 TFT彩屏Abstract Integrated op-amp tester is a commonly used in electronic chip test equipment. At p