外文翻译一种基于带有特别过滤和偏移调制光栅投影位移传感器.docxVIP

附 录附录1一种基于带有特别的过滤和偏移调制的光栅投影的位移传感器胡建明，曾爱军，王向朝，中国摘要由美国A-B公司生产的ControlLogix系列可编程序逻辑控制器(PLC)提供了多种接口类型：如以太网、ControlNet、DeviceNet、RS-232等等。ControlLogix以太网连接模块“1756-ENET”使用了EtherNet/IP、ControlNet等协议，并采用了专业的服务代码封装于以太网协议包中。针对“实验性物理和工业控制系统”(EPICS)开发的驱动程序使用了EtherNet/IP协议，从而使得控制器可以运行vxWorks RTOS、Win32和Unix/Linux的测试程序。现在来分析一下这个接口的特点和使用场合。1 正文一种基于石油光栅空间滤波和偏振调制的位置传感器被提出。它是一种光栅投射到被测物体上要通过4倍的空间滤波器光学系统。经被测物体反射的光栅投影通过另一个4倍光学系统成像形成莫尔条纹。莫尔极化信号获取被测物体的位置信息。在位置传感器，不同的莫尔正弦信号对应不同的对象的位置。测量是用独立的光栅投影强度和对象的反射率来衡量。在实验中，位置传感器的效力得到证明，并且均方根（RMS）的每个测量位置误差小于13纳米。位置的测量已在许多领域发挥了重要作用，例如制造，生物物理学，和自动控制领域。在位置的测量方法，光学方法让人更有兴趣，因为它具有高度的准确性并且是非接触式测量。在普通光学方法，诸如图像测量，干涉仪，使用位置灵敏探测器（PDS）的直线位移测量，测量光束方向是垂直于被测物体表面的。当有物体阻挡在对象的垂直方向时，普通光学方法就不在适用。要解决这个问题,本文提出一种新的基于临界入射的位移光栅传感器。这种位置传感器是如图①-1所示。一个投射光栅被平行激光束照亮,投置到前面的焦面镜L1。焦距透镜组L1和L2组成4倍焦系统1。在这个4倍焦系统中，频率平面有一个孔径。投影光栅被投射到被测物体投影光栅通过这个临界入射的4倍焦系统1 被检测。由镜头L3和L4组成的4倍焦系统2同系统1有相同的光学参数。这个传感光栅呈现在L4的背面焦点平面。经物体反射后,这个投影光栅的影像通过4倍焦系统2 投影到传感光栅上。由于检测光栅和投影光栅的影像重叠产生莫尔条纹。莫尔条纹输出信号随物体的方位变化由一个探测器通过透镜L5探测到。一个起偏镜和镀板在L4和检测光栅之间。形成投影光栅图像的光线通过偏光系统成为线性偏振光。通过镀板，线性偏振光被分成两个垂直极化相互交叉的光线。一个分析仪安置在检测光栅和L5之间。当分析仪是围绕在4倍焦系统2的光轴线周围，偏光器板和分析形成偏振调制器。随着极化调制，莫尔信号对在光栅投影上光的强度的变化是不敏感的。因此，该被测物体的位置，通过检测调制能够准确的测量。图①-1位置传感器示意图在图①-1中，位于4倍焦系统中的光轴定义为z轴。投影光栅平面上,垂直、平行于投影光栅槽的方向分别被定义为x0和y0轴。同样，定义x2，y2轴和x3，y3轴。在4倍焦系统1的频平面上的x1，y1轴分别平行于光栅投影平面x0，y0轴。光栅投影中心放置在x0轴的起点。该光栅投影空间的比例为1:1。光栅投影的周期和宽度分别为D和B。通过光栅投影振幅分布表示为：（①-1）公式（①-1）中I1是在光栅投影强度。随着透镜L1傅立叶变换，在4焦距系统的频平面上的频率分布情况为：（①-2）式中λ是激光波长和f是L1的焦距。在频平面上，孔径作为空间滤波器，其过滤的功能如下所示：（①-3）因此，只有0，± 1衍射角的光能通过孔径，通过孔径的频率分布写为：（①-4）经L2傅里叶变换，在L2的回焦平面上振幅E(x2)分布如下式：（①-5）因此，在光栅投影图像的光强分布表示为：（①-6）被测物放在靠近L2 的背焦点的地方。L3的前焦点与L2的背焦点是重叠，4倍焦系统的1和2在纵向是对称的。经过对象反射，投影通过4倍焦系统成像与检测光栅上。L3的前焦点所在水平面被定义为位移传感器的零平面。如果在被测物与传感器的零平面之间存在一距离x，检测光栅投影光栅在检测光栅上的图像将随着位置的改变而变化：（①-7）式中θ是入射光角度。关于检测光栅投影光栅在检测光栅上的图像的光强分布表示为：（①-8）式中R表示被测物的反射率。起偏器的传播轴线与检测光栅槽间的夹角为45 °。镀板包括两块相互正交的双折射板。它将形成投影光栅的图像光线分成正交极化、相互交叉的两条线，即常规的和特殊的光射线。因此，投影光栅的被称作常和特殊的两个图像在检测光栅上成像。两图像间的距离是d/2。常规和特殊的图像强度分布表示为：（①-9）（①-10）两式中，－B/2≤x3－2x sinθ≤B/2。检测光栅有同投影光栅一样的周期和占空比，而且有平行的槽。检测光栅放在距离轴X3的起点d/4的